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最終更新日:2019-07-30 09:23:35.0

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[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

基本情報[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定することにより、物質の構成元素や電子構造を分析する方法です

EELS分析における下記の情報を掲載しております。
・原理
・特徴
・適用例
・データ例

[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

[TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法 製品画像

EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。
TEMに付属している元素分析装置(EDX)と比較して、下記の特徴があります。

・EDXに比べて軽元素の感度が良い
・EDXに比べてエネルギー分解能が高い
・EDXに比べて空間分解能が高く、周辺情報を検出し難い
・元素によっては化学状態分析が可能 (詳細を見る

取扱会社 [TEM-EELS]電子エネルギー損失分光法

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受託分析サービスで、研究開発を行う皆様をサポートします! 半導体・金属・電池などのエレクトロニクス材料や、医薬品・化粧品・食品・環境などのライフサイエンス分野に幅広く対応。 SIMS・TEM・XRD・ICP-MS・GC/MS・AES・SEM・EPMA・EELSなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 まずはご相談下さい。 ◆事業領域◆ 1. 科学技術分野における材料に関する基礎的研究及び解析・評価。 2. 半導体、生理学生化学、バイオ関連分野及び各種先端的分野についての基礎的研究及び解析・評価。 3. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の研究機関又は個人に対する表彰及び支援。 4. 1、2号に掲げる研究成果等の出版または出版の支援。 5. 1、2号に掲げる国内外における関連分野の調査。 6. 1、2号に掲げる国内外における関連分野に関する研修の実施及び支援または研修所の運営。 7. その他目的を達成するために必要な事業。

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