標準品コンタクトプローブ 【使用方法】

【製品カタログ】【使い方の説明資料】

コンタクトプローブ（ポゴピン、探針などとも言います。）は
電子部品の導通検査などに使われてきました。
弊社はプローブピンの専業メーカとして30年余りにわたる実績がございます。

構造はパイプの中にバネが入っており、先端（＝プランジャー）が
ストロークすることにより検査対象の電極に適切な荷重で接触します。

製品カタログにはピッチ（プローブが並ぶ間隔）ごとに、15種類のラインナップをご用意しております。
各シリーズごとに複数の先端形状を誤用しております。

弊社のプローブピンは、部品の加工から組み立てまでを一貫して社内で行っております。
そのため、様々なご要求にお応えできる特殊仕様品の製作が可能です。

【樹脂ボード加工も承ります】
プローブのご提供はもちろんのこと、プローブを固定する樹脂の加工も承ります。また、ソケットをボードへの組み込み、コネクタへの配線までを取り付けた状態でのご提供が可能です。
樹脂加工のみのご依頼も承りますのでお気軽にお問い合わせください。

※詳しくはPDFをダウンロード、もしくはお問合せください。 （詳細を見る）

当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・
ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。

☆コンタクトプローブ☆
標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。

☆プローブカード・ICソケット☆
樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、
検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。

【対応例】
◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作）
◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作)
◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作）
◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など

【製品例】
＜コンタクトプローブ＞
・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」
＜ICソケット＞
・非磁性対応ソケット
・高耐熱対応ソケット
＜プローブカード＞
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）

当社では、半導体の検査に使用する『コンタクトプローブ・ICソケット・プローブカード』を設計・製作しています。

▼コンタクトプローブ
標準品はもちろん、検査条件に合わせた特殊仕様にも柔軟に対応。

▼プローブカード・ICソケット
樹脂の加工・組み立てなどに一貫対応できるため、
検査対象にあった検査治具を低コストでご提供可能です。

【対応例】
◎狭ピッチ対応（MIN P=80μで製作）
◎大電流検査(IGBTデバイスの前工程検査用に製作)
◎非磁性検査（磁性を持たない材質でプローブ製作）
◎その他：高周波(10GHz)、高耐熱(300℃以下)など

【製品例】
▼コンタクトプローブ
・交換の手間を削減。耐久性に優れた「レアメタルプローブ」
・内部構造を見直し。安定した抵抗値測定向け「新型バイアスプローブ」
▼ICソケット
・非磁性対応ソケット、高耐熱対応ソケット
▼プローブカード
・min80μピッチ対応プローブカード
・大電流負荷試験プローブカード

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。 （詳細を見る）

当社が取り扱う、『コンタクトプローブ』の使用方法をご紹介します。

「標準品コンタクトプローブ（片端プローブ）」は、交換や配線の容易さから
基本的にソケットとペアで使います。

一般的なコンタクトプローブの使い方としては樹脂に穴をあけ、そこに
ソケット（レセプタクル/リセプタクル）を埋めてリード線をつないで配線。
最後にソケットにコンタクトプローブを入れて完成となります。

また当社のホームページでは、“両端コンタクトプローブの使い方”や
“両端プローブの交換”もご紹介しております。

【掲載内容】
■標準品プローブの使用方法
■両端プローブの使用方法
■両端プローブの交換

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、当社HPを是非ご覧ください。 （詳細を見る）