HiPP-3_2018

HiPP-Labは、大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置をさします。

差動排気システムを用いて大気圧に近いレベルでの測定環境下で試料の測定が可能となり
今まで測定出来なかった環境制御下における次世代のXPS装置です。

【用途】
環境制御下での試料のXPS観察・測定

―‐‐以下英文による紹介です。
The HiPP-Lab brings together the world leading instrumentation for APPES:

●Outstanding performance APPES system with unchallenged energy, spatial and angular resolution
●Intelligent integration and automation
●State of the art HiPP-3 analyser:
- Line mode imaging mode
- Angular mode
- Swift acceleration mode for increased intensity
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硬X線を励起源とするラボタイプの光電子分光システムです

硬X線光電子分光法(HArd X-ray PhotoElectron Spectroscopy : HAXPES)は、
多くの放射光施設が既に導入している、次世代の光電子分光(XPS)の一つです。ビームラインより、膜の下地や埋もれた界面、通常のXPSでは届かない深い内殻軌道の情報が得られる手法として注目されています。従来では放射光施設でのみ測定出来たこの手法をお手元のラボにこのシステムを置くことで、表面の情報だけではなく、バルクの情報も得られる次世代の光電子分光測定が可能となります。 （詳細を見る）