膜厚測定器(めっき)のメーカーや取扱い企業、製品情報をまとめています。
イプロスは、ものづくり都市まちづくり医薬食品技術における情報を集めた国内最大級の技術データベースサイトです。

膜厚測定器(めっき) - 企業と製品の一覧

  1. 蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』

    蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』

    ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの膜厚を短時間で高精度に測定可能。
    【サンプル試測定実施中】 『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可   従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用   SDD(シリコンドリフトディテクタ―)を搭載したことにより、   短時間で高精度の測定が可能になりました。 ●基板の微小パッド等も測定可能   Au/Pd/Ni/Cu/基板の様な多層メッキを高精度に測定可能です。 ●厚付けSnメッキの下にあるNiメッキも測定可能   従来では難しかった厚付けスズメッキの下にあるニッケルメッキの   膜厚測定を可能にしました。 ●プリント基板やコネクターの小型化、薄膜化に対応できます。   もちろん従来製品の測定も半分以下程度の時間で可能になります。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
    メーカー・取扱い企業:
    アンリツ
    価格帯:
    ¥10,000,000~¥50,000,000

4件中14件を表示中

  • 1