蛍光X線式 膜厚測定器 微小部測定用『 XDV-μ 』
ポリキャピラリX線光学系を採用。微小部の薄膜メタライズ、高機能めっきの膜厚を短時間で高精度に測定可能。【サンプル試測定実施中】 『XDV-μ』は、ポリキャピラリX線光学系を採用した汎用性の高い エネルギー分散型蛍光X線測定装置です。 当製品は、非常に小さい部品や構造部分を非破壊で膜厚測定・ 素材分析に適した測定器です。 【特長】 ●最小10µmの集光レンズを搭載可 従来では測定できなかった微小部の薄膜メッキでも測定が出来ます。 ●検出器には半導体検出器の中でも最高性能のSDDを採用 SDD(シリコンドリフトディテクタ―)を搭載したことにより、 短時間で高精度の測定が可能になりました。 ●基板の微小パッド等も測定可能 Au/Pd/Ni/Cu/基板の様な多層メッキを高精度に測定可能です。 ●厚付けSnメッキの下にあるNiメッキも測定可能 従来では難しかった厚付けスズメッキの下にあるニッケルメッキの 膜厚測定を可能にしました。 ●プリント基板やコネクターの小型化、薄膜化に対応できます。 もちろん従来製品の測定も半分以下程度の時間で可能になります。 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- アンリツ
- 価格帯:
- ¥10,000,000~¥50,000,000
Micro Pioneer 蛍光X線膜厚測定器 XRF-2000
コーティング工程における膜厚測定の問題を一掃!メッキ厚測定の現場ニーズに応える高性能膜厚検査装置- メーカー・取扱い企業:
- 日本アレックス
- 価格帯:
- お問い合わせ
蛍光X線式 膜厚測定器 ハンドヘルド型『 XAN500 』
ハンドヘルド型でありながら、高精度かつ高い検出感度。現場で素早く非破壊で検査します。『ハンドヘルド型蛍光X線式測定器XAN500』は、携帯可能な蛍光X線式の 膜厚測定および素材分析機器です。 シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。 品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な 形状の測定にも対応できます。 キャリブレーションの頻度が少なく済むため、時間と手間が削減できます。 【特長】 ■現場に携帯し測定できる ■シリコンドリフト検出器搭載 ■高精度かつ高い検出感度 ■小型部品や複雑な形状の測定にも対応 ■時間と手間が削減できる 対象例:貴金属・金属・メッキ関連 など ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。- メーカー・取扱い企業:
- アンリツ
- 価格帯:
- ¥5,000,000~¥10,000,000
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