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"A window to the bulk" 、"ビームタイムをお手元に"
硬X線を励起源とするラボタイプの光電子分光システムです 硬X線光電子分光法(HArd X-ray PhotoElectron Spectroscopy : HAXPES)は、 多くの放射光施設…
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高分解能XPS/UPS/ARPESでコンパクトなアナライザー DA-20が新登場！
角度分解光電子分光アナライザーとして、お求めやすいサイズと価格でご提供いたします。 ※詳細はPDF資料（英語）をダウンロードしてください。 ※お問い合わせもお気軽にどうぞ。
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光電子分光関連装置～超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力顕微鏡(AFM)など、卓越した製品群をご紹介！
光電子分光(PES)の黎明期からその重要性に着目し、世界のトップブランドとして、多くの関連装置を開発し、市場に導入してきました。 その他、超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間…
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直径10mmの電子銃が、影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得
『LEED』は、OCI社製の低速電子線回折測定が出来る装置です。 当製品の電子銃は直径10mmで、スクリーンの視野が広く、電子銃による 影面積を最小限に抑えてLEEDパターン像を取得することが…
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真空紫外光源の紹介
輝度の高い紫外光源（真空紫外光源）のご紹介です。 【詳細】※英文 The Scienta VUV5000 is a high intensity, narrow bandwidth extr…
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XPS/UPS/ARPES 分析アナライザーの紹介
XPS/UPS/ARPES分析アナライザーのご紹介です。 【詳細】※英文 With its 135 mm mean radius and mu-metal analyzer vacuum ta…
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ARPES分析アナライザーの紹介
ARPES分析アナライザーのご紹介です。 【特長】※英文 ●30° degrees full cone acceptance without sample rotation ●Spin-re…
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ARPESでのXPS観察・測定に！次世代のARPES測定装置の紹介です。
ARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）、XPS観察・測定に使用される装置です。 【用途】 ARPESでのXPS観察・測定 ―‐‐以下英文による紹介です。 The AR…
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冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡の紹介です。
VT-STM/AFM （温度可変型走査トンネル顕微鏡）は、冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡をさします。 低温から高温までの幅広い温度帯のSTM測定が可能のため、ナノ領域（低温から高温まで）のST…
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真空蒸着装置の紹介です。
○FZ Juelich Cluster -Installed at the HNF (Helmholtz Nanofabrication Facility) Juelich, Germany …
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真空蒸着装置の紹介です。
Virtually unlimited thin film growth techniques. ●Combined UHV SPM / XPS / UPS / MBE system ●Hyb…
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放射光施設でのみ可能であった硬X線光電子分光がラボでも使用可能に！
今までの汎用XPSでは到達できなかった深さを分析できる次世代のXPS装置です。 これまで放射光施設でのみ使用可能だった硬X線の使用が可能になりました。 Ga ka単色化線源により９．２５keV励起…
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大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置！
HiPP-Labは、大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置をさします。 差動排気システムを用いて大気圧に近いレベルでの測定環境下で試料の測定が可能となり 今まで測定出来なかった環…
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極低温環境における走査トンネル顕微鏡の紹介
LT STM（極低温走査トンネル顕微鏡）とは、極低温環境における走査トンネル顕微鏡をさします。 多数の販売実績のある装置で、5K以下の極低温でのSTM測定が可能な装置です。 【用途】 極低温…
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HYDROGEN ATOM BEAM SOURCE HABS
HYDROGEN ATOM BEAM SOURCE HABSの製品情報となります
The Hydrogen Atom Beam Source HABS is a thermal gas cracker which produces an absolutely ion-free hy…
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CARBON SUBLIMATION SOURCE SUKO
CARBON SUBLIMATION SOURCE SUKOの製品情報となります
The Carbon Sublimation Source - SUKO - was developed for growth of Si-C and Si-Ge-C alloys in silico…
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SILICON SUBLIMATION SOURCE SUSI
SILICON SUBLIMATION SOURCE SUSIの製品情報となります
The Silicon Sublimation Source - SUSI - was developed for growing of thin Si layers, short period Si…
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COMPACT EFFUSION CELLSの製品情報となります
COMPACT EFFUSION CELLS FOR THIN FILM DEPOSITION OR MBE IN RESEARCH UHV SYSTEMSの製品情報となります。 詳しくはカタログダ…
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Oxygen Atom Beam Source OBSの製品情報となります
The Oxygen Atom Beam Source OBS is a thermal gas cracker which produces an ion-free oxygen gas beam.…
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様々なタイプの励起源をご用意しております
X線源、モノクロメータ、5kV電子銃、低速電子銃、12kV電子銃、紫外線ソースなどをラインナップ。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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様々なタイプの蒸着源をご用意しております
小面積用蒸着源、イオンアシスト小面積用蒸着源、大面積用蒸着源、3源蒸着源、原子状水素源、蒸着源用電源、大面積用蒸着電源、各種蒸着器用ルツボなどをラインナップ。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログを…
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様々なタイプのエネルギー分析器及び光電子顕微鏡をご用意しております
静電半球型エネルギー分析器、高電圧静電型エネルギー分析器、スピン電子検出器、同軸型エネルギー分析器、角度分解エネルギー分析器、光電子顕微鏡、光電子顕微鏡用オプションなどをラインナップ。 詳しくはお問…
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様々なタイプの複合型分析装置をご用意しております
角度分解分析用超高真空排気装置、HREELS用超高真空排気装置、MBE用超高真空排気装置、複合型分析用超高真空排気装置、UHV NANOPROBEなど、様々なタイプの複合型分析装置をラインナップ。 …
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シエンタオミクロンSPM（走査型プローブ顕微鏡）超高真空排気装置
走査型プローブ顕微鏡用の様々な超高真空排気装置をご用意しております
各種SPM用超高真空排気装置、ボルトオン型SPM用超高真空排気装置（後日前処理室拡張可能／試料前処理室付き）、LT-SPM用超高真空排気装置（試料前処理室拡張可能）、Cryogenic型SPM用超高真…
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シエンタオミクロン SPM（走査型プローブ顕微鏡）用アクセサリ
走査型プローブ顕微鏡用の様々なアクセサリをご用意しております
オミクロン社のSPM（走査型プローブ顕微鏡）用の様々なアクセサリをご用意しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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お客様のご要望に応じた多種多様な顕微鏡をご提供しております
オミクロン社の顕微鏡をご選択いただく上で、”温度”と”機能”をご検討ください。 ”温度”は、観察する試料の温度です。観察する際の試料温度が室温で良いかどうか、冷却する必要があるか、加熱する必要がある…
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X線光電子分光分析装置
X線光電子分光分析装置をご用意しております。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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