scienta omicronの製品一覧です。
Custom MBE Systems(真空蒸着装置)
真空蒸着装置の紹介です。
Virtually unlimited thin film growth techniques. ●Combined UHV SPM / XPS / UPS / MBE system ●Hyb…
Cluster Systems(真空蒸着装置)
○FZ Juelich Cluster -Installed at the HNF (Helmholtz Nanofabrication Facility) Juelich, Germany …
LT STM(極低温走査トンネル顕微鏡)
極低温環境における走査トンネル顕微鏡の紹介
LT STM(極低温走査トンネル顕微鏡)とは、極低温環境における走査トンネル顕微鏡をさします。 多数の販売実績のある装置で、5K以下の極低温でのSTM測定が可能な装置です。 【用途】 極低温…
HiPP-Lab(環境制御型X線光電子分光分析システム)
大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置!
HiPP-Labは、大気圧レベルの圧力での測定を可能にしたXPS分析装置をさします。 差動排気システムを用いて大気圧に近いレベルでの測定環境下で試料の測定が可能となり 今まで測定出来なかった環…
HAXPES-Lab(ラボ型硬X線光電子分光分析システム)
放射光施設でのみ可能であった硬X線光電子分光がラボでも使用可能に!
今までの汎用XPSでは到達できなかった深さを分析できる次世代のXPS装置です。 これまで放射光施設でのみ使用可能だった硬X線の使用が可能になりました。 Ga ka単色化線源により9.25keV励起…
VT-STM/AFM (温度可変型走査トンネル顕微鏡)
冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡の紹介です。
VT-STM/AFM (温度可変型走査トンネル顕微鏡)は、冷却加熱系を備えた走査トンネル顕微鏡をさします。 低温から高温までの幅広い温度帯のSTM測定が可能のため、ナノ領域(低温から高温まで)のST…
ARPES-Lab (ARPES光電子分光分析システム)
ARPESでのXPS観察・測定に!次世代のARPES測定装置の紹介です。
ARPES-Lab (ARPES光電子分光分析システム)、XPS観察・測定に使用される装置です。 【用途】 ARPESでのXPS観察・測定 ―‐‐以下英文による紹介です。 The AR…
DA30-L (光電子アナライザー)
ARPES分析アナライザーの紹介
ARPES分析アナライザーのご紹介です。 【特長】※英文 ●30° degrees full cone acceptance without sample rotation ●Spin-re…
R3000 (光電子アナライザー)
XPS/UPS/ARPES 分析アナライザーの紹介
XPS/UPS/ARPES分析アナライザーのご紹介です。 【詳細】※英文 With its 135 mm mean radius and mu-metal analyzer vacuum ta…
VUV-5K (紫外光源)
真空紫外光源の紹介
輝度の高い紫外光源(真空紫外光源)のご紹介です。 【詳細】※英文 The Scienta VUV5000 is a high intensity, narrow bandwidth extr…
【基礎研究者向け】表面分析についてはお任せください!
光電子分光関連装置~超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間力顕微鏡(AFM)など、卓越した製品群をご紹介!
光電子分光(PES)の黎明期からその重要性に着目し、世界のトップブランドとして、多くの関連装置を開発し、市場に導入してきました。 その他、超高真空技術を駆使した走査型トンネル顕微鏡(STM)、原子間…
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