セイコーフューチャークリエーション株式会社は受託分析サービス、研究開発、生産技術、FAシステムを中核とした事業を行い、お客様の課題解決に向けた各種サービスを提供します
受託分析に関しては
セイコーグループの開発、製造、品質保証の各工程での課題解決実績
があり、各種場面で背景まで想定し総合的な対応が可能です
時計やICを主としてプリンター関連などでの豊富な分析経験実績からミリオーダー~ナノオーダーサイズサンプルを取り扱えます
特に以下技術でお客様の課題解決に”多面的且つ総合的”に取り組みます
・集束イオンビーム装置(FIB)を使った微細加工
・示差走査熱量計(DSC)他による材料性質の熱分析
・走査型プローブ顕微鏡(AFM)他による微小部形態観察
・各種装置(XPS、AES、GD-OES)による表面解析
・各種装置(SEM、TEM)による断面観察、構造解析
技術者が直接相談対応いたします
お困りごとがあればお気軽にお声がけいただければ幸いです
※セイコーフューチャークリエーション株式会社は2022年7月1日にセイコーアイ・テクノリサーチ株式会社から社名を変更しました
各種、分析・試験の受託
(機器分析、集束イオンビーム加工、環境分析、材料試験、技術コンサルティング(材料・熱処理・表面処理 等))
必要な情報やお困りごと等ありましたらぜひご連絡ください。
E-Mail:sfc-tr1@seiko-sfc.co.jp
詳細情報
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カタログ(47件)一覧
ニュース(3件)一覧
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2023-10-25 00:00:00.0
第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023」の商業展示に出展
「第43回 ナノテスティングシンポジウム NANOTS 2023」の商業展示に『FIBによるIC配線修正・回路修正 、FIB/TEMを用いた三次元断面観察による異物検出技術のご紹介』のテーマで出展いた…
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2023-08-02 00:00:00.0
YouTubeに動画『FIBによるめっき不良のSlice&Viewおよび3D構築』をアップしました。
集束イオンビーム(Focused Ion Beam:FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。 また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM(電界放出形電子顕微鏡…
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2023-03-03 00:00:00.0
FIB-SEM装置Helios5 DualBeamを導入しました
最新型集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)サーモフィッシャーサイエンティフィック製Thermo Scientiffic DualBeam装置Helios 5 CXを導入しました。 走…
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