セイコーフューチャークリエーション株式会社

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【動画】FIBによるめっき不良のSlice&View/3D構築

FIBのSlice & View機能によりめっき不良の起点から広がる様子、3D構築により不良の形状が確認できます

集束イオンビーム(Focused Ion Beam：FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。また、FIB-SEMは高解像度のFE-SEM（電界放出形電子顕微鏡…
【DSC】温度変調DSC法の紹介(高分子材料の評価)

温度変調DSCはIS法による比熱測定で、困難とされていた高温領域での比熱測定など通常のDSCでは得られない多くの情報が得られます

温度変調DSCは、通常のDSCでは得られない多くの情報が得られ、以下が可能となります・上記のように可逆成分と不可逆成分の比較による熱履歴等の判別・JIS法による比熱測定では困難とされていた、1…
【TG-DTA】熱重量測定によるゴム内のカーボンブラックの定量

＜資料はDL可＞TG-DTAでゴム中のカーボンブラックの定量を行えます。ゴム中のフィラー、無機・金属成分の量が把握可能です

弊社では示差熱熱重量同時測定装置(TG-DTA)により雰囲気を適切に選び材料の有機分、無機分の重量測定、成分比を明確にしますこの事例ではその技術の一例として「ゴム内のカーボンブラックの定量…
【資料DL可：FIB】FIBによるナノレベル高精度加工

FIB装置によりSi基板上に”マスクレス”でナノレベルの加工を狙った位置に高精度で行えます

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置のエッチング加工でマスクレスで任意形状作成できます。この事例ではでは以下サイズで50nmステップ毎のピラー作製を紹介しています。…
【資料DL可：DMA】DMAによる長時間変形予測(ゴムの変形)

DMA測定の結果から材料の長期変形(クリープ測定)の結果を予測可能です。通常長時間かかる評価に活かせます

弊社ではDMA測定の結果にWLF則(時間-温度重ね合わせの定理)を適用することにより、実際には測定していない周波数領域での弾性率等を推測できます(マスターカーブの作成) その技術を活用して材料特…
【資料DL可】高分子材料のミクロトームによる平滑化とAFM観察

クライオミクロトームとAFMで軟らかい高分子材料の各種高分解能観察が可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。その物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力など…
【資料DL可・DSC】米・麺類等でんぷんの糊化把握

DSCでは食品加工で重要な要素でんぷんの糊化や老化の様子を把握できます。他食品でも応用可能な本技術を存分に味わってみてください

でんぷん加工食品においては、糊化(α 化や、逆反応である老化 (β 化の様子を把握がとても重要です。弊社ではその様子をDSC(示差走査熱量計)を用いて把握する技術がありますこの事例…
【資料DL可：EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による変化などを把握できます。

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます本事例…
【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選定に役立ちます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状…
【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

EBSDで金属組織の形状変化確認と内部歪み測定を行うことで板バネ、ひげぜんまい等の曲げ加工が適切かを判断できます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・断面形成後の結晶方位解…
【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織観察

EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに行えます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・結晶系の異なる相の分離…
DL可：セイコーフューチャークリエーションオンライン立会い分析

オンラインで遠隔での立会い分析が可能に！もちろん訪問での立会いも受け付けております

通常訪問で実施の立会い分析をWeb会議ツールを使用してオンラインでも行います・分析機器のデータ画像をWeb会議ツール上で共有します・当社からの分析内容説明、当社とお客様の情報交換、質疑…
【DL可/EBSD】EBSDによる2相ステンレスの相解析

金属および金属化合物の硬さや脆さなどの性能比較、変色の不具合がなぜ起こっているかを把握できます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・結晶系の異なる相の分離…
【DL可/EBSD】EBSDによるはんだ断面の内部歪み測定

「実装条件違いや経年劣化で起きる不具合は何か？」はんだ内部に潜む問題を検証します

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です・微小領域での結晶粒径、…
【DL可STEM/EDS】STEM/EDSによる半導体絶縁膜評価

STEM-EDS観察は半導体のPoly-Si(ポリシリコン)間の絶縁膜形状や層構造を確認でき半導体の不具合原因究明に応用できます

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。加…
【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表面を保護するサンプリング法”により損失なしで確認可能です

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。以…
【資料DL可】TG-DTA 測定における雰囲気の影響

知りたい情報によりTG-DTAの測定雰囲気を正しく選ぶ必要があります。当社は適切に選定し測定いたします

示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA）では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します…
【DL可/TG-DTA】TG-DTA 測定における雰囲気の影響

TG-DTAでお客様の知りたい情報によって測定雰囲気など適切な条件を選定して測定します

示差熱熱重量同時測定装置（TG/DTA）では試料の酸化、熱分解、脱水等による重量変化、耐熱性の評価、反応速度の分析が可能です。この事例では「TG-DTA 測定における雰囲気の影響」を紹介します…
【DL可/GD-OES測定】変色したステンレスの組成調査

GD-OES（グロー放電発光分析）によりステンレス(SUS)の表面をスパッタして深さ方向の組成情報を取得できます

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し…
【DL可/AFM】めっき済み接点部品表面の導電性評価

AFMでは極めて微小な表面形態（凹凸）を捉えて測⾧することが可能です

AFM走査型プローブ顕微鏡は、「探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う」装置です。この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気…
【DL可/XPS】XPSでの材料表面(ニッケルめっき)の変色調査

X線光電子分光分析(XPS)は表面汚染・変色の分析や表面処理の評価に有効であり、元素の特定に加え元素の結合状態の解析も可能です

X線光電子分光分析(XPS)は ●試料最表面(数nm)の元素情報を得ることができるため、表面処理の評価、表面汚染・変色の分析に有効です。 ●元素の特定だけでなく、元素の結合状態の解析も可能です…
【資料DL可：DSC】シリコンゴムの DSC 測定(低温測定)

一般的に難しい低温度域でも材料の融解、ガラス転移、結晶化、熱硬化等の転移状況を観測できます

物質によってはガラス転移、冷結晶化、融点が低温領域に存在することがあります弊社ではその特性をDSC(示差走査熱量計)を用いて測定する技術がありますその技術を活用して材料特性を把握していただ…
【DL可/XPS】XPSによる撥水膜の分析

X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるので表面汚染、表面処理の評価に活用いただけます

XPSナロースペクトルを取得し、それぞれC1sスペクトルの状態解析を行うことで炭素の結合の種類と定量値がわかりました。接触角測定と併用することで撥水性や親水性評価に活用可能です。この事例で…
【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価

AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品など多面的な加熱影響調査を行います

AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力など…
【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定4(最適生成条件検証)

チョコレートのテンパリング工程（ココアバターの6種類の結晶形の内V型の結晶に揃える作業）で「何が重要か」が分析でわかります

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙…
【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定3（溶け方の違い）

DSC測定による科学的な分析で板チョコの中央部と外周部では「溶け方が異なる」ことがわかります

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。また、融解挙…
【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）

チョコレートを徹底的に科学分析することで各社製品の比較が行えます

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。この…
【DL可/熱分析】チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）

DSC測定でチョコレートの主成分であるココアバターの融解挙動の把握が可能です。チョコレートの食感判別や品質管理にご活用ください

示差走査熱量測定DSC(Differential Scanning Calorimetry)は、試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定に利用できます。この…
<PDF資料DL可＞【XPS】XPSでのポリイミド表面の汚染分析

X線光電子分光分析(XPS)は試料最表面(数nm)の元素情報を得られるため表面汚染・変色の分析や表面処理その他の評価に最適です

ポリイミドフィルムの表面が疎水性になるという不良が発生しましたが、SEM/EDX分析では得られる情報深さが深いため、最表面に存在する特異な元素は検出できませんでした。そこで表面に敏感な手法であるX…
【DL可/GD-OES分析・測定】めっき基板の洗浄評価

GD-OES（グロー放電発光分析）によりNiめっきの膜厚、濃度の分析状態を把握できます。他の表面加工の解析にもご活用ください

グロー放電発光分析法(Glow Discharge OpticalEmission Spectrometry:GD-OES)は、スパッタリングにより試料表面から原子を弾き出し原子をプラズマ状態に励起し…
【DL可/TMA】プラスチックの圧縮応力による変形・破断の推定

プラスチック製ワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による変形・破断の様子をTMA・応力ひずみ測定装置で推定できます

●試料：プラスチック製のワッシャ、ガスケット等の局所的な圧縮応力による、変形・破断の様子を推定 ●手法：TMA(熱機械分析)・応力ひずみ測定装置による圧縮クリープ測定、応力ひずみ測定 ●結果：クリ…
【DMA】動的粘弾性測定でのポリエチレン(PE)のガラス転移測定

DMAによってDSCでは捉えられないポリエチレン(PE)のガラス転移を測定可能です。PEの特性を取得するためにぜひご活用ください

●目的:ポリエチレン(PE)のガラス転移を測定 ●手法:粘弾性測定(DMA) ●結果:DSCでは捉えられないPEのガラス転移を測定可能この事例では DMAを用いた「動的粘弾性測定によ…
【資料DL可：DSC】熱分析によるエポキシ樹脂の硬化特性解析

DSC測定結果からエポキシ樹脂の硬化時間を推定可能です。Kamalモデル(Kamal model)を使いシミュレーションします

•半導体のパッケージングでは、エポキシ樹脂の硬化時間を把握することが大切です •エポキシ樹脂の硬化反応速度式としては、Kamalのモデル式(Kamak Model)が広く用いられています •Kam…
【DL可】FIBによる微小対象物(ICコンタクト部)の断面作製

FIBで微小対象物(例えばICコンタクト部)の任意箇所、ここという場所を狙って断面を作製できます

弊社保有のFIBFIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では、0.1μm程度の対象物であれば、狙って断面を作製することが可能です。この技術を用いて、正確な位置でのTEM…
【資料DL可：FIB】FIB装置によるSi基板へのパターン描画

FIB装置でシリコン基板上に高精度のパターン形成を行えます。マスクレスで可能なので試作に最適です。

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置ではマスクレスで任意形状のパターン描画(パターン形成)を行うことが可能です。・エッチングによるパターン描画では、1ドットあたり0.1…
＜資料DL可＞【FIB-SEM】めっき層内の異常個所発見方法

FIB-SEM装置で表面からは分かりづらいめっき層内の異常個所を観察でき、Slice&View機能により異常の起点発見も可能です

FIB(Focused Ion Beam：集束イオンビーム)装置では自動で断面を連続で作製し、断面写真を取得することが可能です。この機能を用いて、表面からでは判別が難しい試料内部に存在する異常個所を特…
【資料DL可：XPS/AES/AFM】表面分析に関する事例集2

変色調査や表面改質評価などXPS、AES、AFMによる事例を厳選しました。ぜひご覧いただき資料ダウンロードください

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。「XPSによる材料表面の変色調査」をはじめ、「XPSによるPET表面改質評価」や、「XPSによる撥水膜の分析」、「メッキ部品の加熱影響…
【DL可：XPS/AES/GD-OES】表面分析に関する事例集1

Niめっきの膜厚や濃度測定、表面汚染レベル測定などXPS、AES、GD-OES各装置での表面分析および測定事例をご紹介します

当事例集では、『表面分析』にかかる事例をご紹介します。「めっき基板の洗浄評価（GD-OES測定）」の目的や手法と結果をはじめ、「XPSによる表面汚染分析」の特長や分析事例、「鉄サビの分析 …
【資料DL可：DSC/TG/DMA/TMA】熱分析の事例集4

硬化特性解析や測定方法など！DSC、TG、DMA、TMAによる事例を多数ご紹介。詳細は資料をダウンロードしてご確認願います

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。「熱分析による樹脂の硬化特性解析」の分析事例をはじめ、「高分解能TG測定方法（擬等温・擬等圧重量測定）」の目的や手法と結果、「…
【DL可：DSC/TG-DTA/DMA他】熱分析における事例集3

一般的な熱分析に加え低温測定や変形・破断の推定など弊社の強みであるDSC、TG-DTA、DMA等の各種h事例を多数ご紹介します

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。・「シリコンゴムのDSC測定（低温測定）」・「熱重量測定によるカーボンブラックの定量」・「プラスチックの圧縮応力による変形・破…
【DL可/DSC】熱分析における事例集2

チョコレートを徹底的に科学分析し食感、溶け方の違いを探っています。製品間の比較にも実績がありますのでぜひご活用ください

当事例集では、『熱分析』における事例についてご紹介します。「チョコレートのDSC測定1（結晶型の推定）」をはじめ、「チョコレートのDSC測定2（製品間の比較）」や「チョコレートのDSC測定3（…
【DL可：DSC/TG-DTA】熱分析における事例集1

高分子材料などの材料の実体に触れたい方へ硬化度測定や融解測定などDSC、TG、DTA等による熱分析事例を多数ご紹介します

熱分析とは、物質の温度を変化させながらその物質のある物理的性質の温度依存を測定する技法です手法の一例： ●DSC：試料の融解、ガラス転移、熱履歴、結晶化、硬化、キュリー点等の分析や比熱の測定…
【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2

微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。

当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試…
【TEM/SEM/EBSD】断面観察及び構造解析に関する事例集1

金属組織観察や相解析などTEM、FE-SEM、EBSD等による断面観察および構造解析に関する事例を多数ご紹介します！

当事例集では『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。「線材（ばね材）の金属組織観察」、「2相ステンレスの相解析」、「STEM-EDSによる半導体絶縁膜評価」の目的や手法、結果…
【資料DL可：AFM】走査型プローブ顕微鏡おける事例集

構造解析/弾性率測定/導電性測定などAFM走査型プローブ顕微鏡による分析事例を多数ご紹介します

当事例集では、『AFM：走査型プローブ顕微鏡』における分析事例をご紹介します。【掲載内容】 ●「食品（そうめん）の構造解析および弾性率測定」手法、結果 ●「真空中AFM導電性測定」の特長や…