半導体関連製品ではスピンドライヤーやPIND試験機(デバイスの異物粒子を検出する試験機)、ICテストソケット、遠心定加速度試験装置等を取扱っております。
PIND試験装置 微粒子衝撃雑音検出装置
デバイスの異物粒子を検出。一時間当たり2000部品以上の試験が可能。
オシロスコープの輝線上に表れるスパイクとしての視覚的な判別ができます。 スピーカーより音質変化による聴覚的な判別、調整された検出レベルの トリガーでのFAILランプの点灯による判別も可能です。 …
半導体部品の欠陥検出 「遠心定加速度試験装置」
高加速度試験(最大34,000rpm、100,000G)。槽内温度コントロールが可能。JIS、MIL、IEC等の規格試験に対応。
「遠心定加速度試験装置」は、半導体部品の構造上・機械的欠陥の検出をします。 【特徴】 ローター室保護のために鋼鉄製の二重リング銅やスライドドアを採用 回転体のアンバランス検地に非接触の渦流センサ…
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