日本マテック株式会社 高性能膜厚計 レプトスコープ2041

磁性体母材の上の非磁性金属膜厚や非導電膜厚測定が簡単に高精度で可能する高性能膜厚計

◆データロガー内蔵(最大3850点)
◆RS232出力付き
◆簡易操作から高精度測定のためのキャリブレーション選択が可能、 未知の膜厚上でも可
◆上下限警報設定機能
◆演算機能、測定点数、最大、最少、平均値、標準偏差
◆オフセット機能
◆豊富なプローブ バリエーション
小型マイクロプローブから、厚物用ZPプローブまで豊富なバリエーションからお選び下さい。

◆測定範囲:0〜12500μm (NEWプローブで最大20mmまで測定可能)
◆測定精度:単極プローブ、100μm以下1%±1μm、100μm以上1.3%±1μm
◆寸法:W83×H151×D35mm、300g 電源:単3電池×2本、26時間使用


◆お問い合わせは、下記までお願い致します。
東京本社:TEL:03-3221-7531
大阪支社:TEL:06-6885-6201
メール: sales@matech.co.jp

基本情報高性能膜厚計 レプトスコープ2041

●磁性体母材の上の非磁性金属膜厚や非導電膜厚測定、非磁性母材上の非導電膜厚測定、単体の非磁性金属泊や非導電箔も金属の上で測定が簡単に高精度で可能。

●豊富な脱着式プローブが使用できる高性能モデル!

●カールドイチェだけの小径マイクロプローブが使用可。先端径1mmで狭い場所でも測定可能。

●大型液晶モジュール(55x28mm)を搭載!

●表示数字が大きくなっただけでなく、サブメニューを表示させていますので操作性が飛躍的に向上しました。画面分解能も128x64pixelにアップ。

●校正、操作、確認が簡単になりました。

●プローブの接触方法の間違いを迅速にキャッチし、データから除外することにより精度も向上。

●バックライトも装備し、暗いところでも画面が見易くなりました。

価格情報 -
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 高性能膜厚計 レプトスコープ2041
用途/実績例 金属上のメッキ・コーティング膜・溶射膜の測定、アルマイト層、クラッド厚さ測定(超音波では難しい鋼材上のSUSクラッドなど)、自動車部品の電着膜厚・ガルバナイズ膜厚測定、フィルムシート・樹脂膜・銅箔、金箔、紙、樹脂シートの厚さ測定

取扱企業高性能膜厚計 レプトスコープ2041

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日本マテック株式会社

●当社は超音波(UT)、渦電流(ET)、 磁気(MT)、浸透(PT)、 リモートフィールド(RFT)、 ×線(RT)、音響(AT)、 低周波超音波(LUT)、光レーザー(VT)等を用いて、製造メーカーにおける 品質管理上の欠陥検出(割れ、傷、巣、異物混入、溶採不良、接着ハクリ等)、 寸法測定(厚さ、長さ)、物性検査 (材質判別、音速測定、弾性率測定、焼入、硬度、導電率等)、と保守検査上の 欠陥検出と残存強度測定(残存肉厚測定)を行うための 非破壊検査装置 を販売致しております。 ●様々な要求に対応させていただくために、様々な手法と豊富な検査装置を取り揃えた唯一の トータルサプライヤーです。

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