高解像度コンピュータートモグラフィー日本マテック

基本情報高解像度コンピュータートモグラフィー

　　　　□■　Global　Technology　Award受賞製品　■□

　高解像度コンピュータートモグラフィー（CT)は、電子部品などの
品質管理において、幅広い用途のパワフルな検査ツールとして活躍
するようになりました。
　トモグラフィーイメージはX線ビームの中で検査物を回転させる
ことによって作られます。
　そのデータには検査物の位置情報とオブジェクトの吸収密度の情報が
含まれていますので、立体データの再構築が可能となります。

【特長】
◆検査物の寸法と材質によって、分解能は数ミクロンであったり、
　サブミクロンとなります。
◆材料中のいかなる内部変化、密度や巣等は可視化され、距離寸法や
　体積が測定されます。
◆一旦、３次元CTのフルデータが収集されると、様々な解析
　（スライス画像、任意の断面図、色調表示、拡大表示、３D測定など）
　が可能となります。

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型番・ブランド名	nanotom−３Dコンピュータートモグラフィー
用途／実績例	※詳細は、カタログをダウンロードしてご参照下さい

カタログ高解像度コンピュータートモグラフィー

nanotom

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取扱企業高解像度コンピュータートモグラフィー

日本マテック株式会社

●当社は超音波(UT)、渦電流(ET)、磁気(MT)、浸透(PT)、リモートフィールド(RFT)、 ×線(RT)、音響(AT)、低周波超音波(LUT)、光レーザー(VT)等を用いて、製造メーカーにおける品質管理上の欠陥検出(割れ、傷、巣、異物混入、溶採不良、接着ハクリ等)、寸法測定(厚さ、長さ）、物性検査 (材質判別、音速測定、弾性率測定、焼入、硬度、導電率等）、と保守検査上の欠陥検出と残存強度測定（残存肉厚測定）を行うための非破壊検査装置を販売致しております。 ●様々な要求に対応させていただくために、様々な手法と豊富な検査装置を取り揃えた唯一のトータルサプライヤーです。