フラッシュメモリーサイクリングテスター
次世代MRAMにも対応した高速テスターバーイン装置
基本情報フラッシュメモリーサイクリングテスター
新型ハードウェハPGとの64ビットデータチャンネルにより、16ビット品で最大768個のデバイスを同時にテスト可能。
（当社比3倍以上の高速試験）
| 価格情報 | - |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | NTS5700 |
| 用途／実績例 | 【用途・実績例】 《対応デバイス》 ○フラッシュメモリー ○エンベデットデバイス ○FeRAM ○MRAM 《対応アプリケーション》 ○信頼性試験（データ書換え試験） ○スクリーニング試験 ○データプログラミング用途 【お問い合わせ先】 電話 ：03-5715-3501 E-Mail ：info@welljp.co.jp 製品案内 http://www.welljp.co.jp/ictester.html 会社案内 http://www.welljp.co.jp/ |
カタログフラッシュメモリーサイクリングテスター
取扱企業フラッシュメモリーサイクリングテスター
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●次世代半導体実装評価用テストウェハ（チップ） ●フリップチップ（ベアチップ）実装装置 ●大気圧プラズマ装置 ●フリップチップ実装受託サービス ●次世代メモリー（ＭＲＡＭ）信頼性評価テスターの開発/販売 ●LED照明・電光掲示板・照明部品の販売サービス ●ナノパルスレーザー照射分析機 【会社案内】 http://www.welljp.co.jp/ 【大気圧プラズマ装置】 http://well-plasma.jp/ 【先端実装開発用TEGチップ】 http://well-teg.jp/ 【フリップチップ実装受託＆ウェハバンプ加工】 http://well-jisso.jp/ 【LED実装受託＆LED関連製品】 http://well-led.jp/
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