株式会社Wave Technology イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

イベントディテクタシステム（環境試験槽連動）

・温度サイクル槽と連動して、導通部分の瞬断を1μsecの分解能でモニタリングすることができるシステムです。
・半導体PKGの接続信頼性試験等で活用頂いております。

・最大160chの瞬断Eventを同時にモニタリング可能。
・集録用、Viewerの2本のアプリケーションを用意しております。
・新規/既存に関わらず、最大15種類のファイルを同時に扱うことが可能。
・12ch/1ブロック又は20ch/1ブロックのシステムを用意可能。

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用途／実績例	・大手半導体メーカー様の実装信頼性試験・組み込み機器実装信頼性試験等で用いられております。

半導体およびその応用製品の開発・設計 ◇高周波・光半導体の設計・開発 ◇筐体・機構設計、シミュレーション ◇パワーエレクトロニクス関連設計・開発 ◇アナログ・デジタル電気回路の設計・開発 ◇カスタム計測システム設計、半導体パッケージ設計

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