ディスク・テック株式会社 LED検査装置 発光チップの外観検査 DTLED-350
- 最終更新日:2020-02-13 11:10:09.0
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まぶしくて見えないチップ欠損及び低輝度チップを高速センサーカメラで検出
DTLED-350は、目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールのチップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出できる発光チップの外観検査です。LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけで簡単に高精度な検査が可能です。UVLEDにも対応しています。
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基本情報LED検査装置 発光チップの外観検査 DTLED-350
【特徴】
○マルチダイスLEDの欠損及び低輝度品を高速に検出
→目視ではまぶしくて見えない、マルチダイスLEDモジュールの
チップ欠損及び低輝度チップを高速ラインセンサーカメラにて検出
○簡単に高精度な検査が可能
→LEDモジュールを検査台に載せてスタートボタンを押すだけ
○UVLEDにも対応
○対応ワークサイズ:50mmX50mm(客先仕様に対応します)
○対応可能LEDモジュール:白色他可視色、UV
○検査時間:1SEC/個
○使用カメラ:1024pix ラインセンサーカメラ
○外部入出力:10Base100
○その他:汎用DIOを搭載可能
○使用電源:AC100V(50Hz/60Hz)
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