静電容量変位センサ　非接触測定日本レーザー

接触することなく変位を高精度に測定。一切損傷や負荷を与えることなく、各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能です。

〇ナノメートル・サブナノメートルの精度を実現。
MicoSenseの独自技術による静電容量での高い温度特性・高安定性・高分解能・優れた直線性の実現。

〇被測定物に一切損傷や負荷を与えず測定。
接触することなく各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出などが可能。

〇目的やアプリケーションのに応じてた使用が可能。真空や非磁性対応の製品も含めさまざまなモデルをラインナップ。

MicroSense LLC独自の技術により開発された静電容量型変位センサです。
■測定フルスケール：±5μm～4500μm、±15μm～250μm、±25μm～500μm
■出力分解能：最高0.0005%FS以下、最高0.001%FS以下、最高0.002%FS以下
■出力直線性：最高0.02%FS以下、最高0.03%FS以下、最高0.1%FS以下、

※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。

基本情報静電容量変位センサ　非接触測定

※詳細はPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせ下さい。

価格情報	※詳細はお問い合わせください。
納期	お問い合わせください
型番・ブランド名	MicroSense
用途／実績例	各種形状、寸法測定、板厚測定、位置検出

取扱企業静電容量変位センサ　非接触測定

株式会社日本レーザー

【取扱製品】 ■レーザー海外より多くの種類のレーザー製品輸入し、あらゆる業種・用途でのお客様の要望に適応できるよう多彩な製品をラインナップしております。 ■ レーザー周辺機器・アクセサリーオプトメカニクス、オプトエレクトロニクス、除振台、光学部品・変調素子、ビームプロファイラー、パワーメーター、ガルバノスキャナ、保護メガネ等。 ■計測応用装置レーザー光を中心に、光を活用した工業計測・解析装置、粒子径分布測定、流体のベクトル測定、非接触測定による各種の最先端機器をご用意。赤外カメラを始めとした画像処理関連の機器・装置 ■加工応用装置描画装置、切断、穴開け、抵抗体のトリミングから、溶接、半田付け、一般加工から半導体製造向けまで