非破壊検査装置　磁粉探傷装置日本電磁測器

キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。

磁粉探傷検査は、キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。試験体を磁化させることで、表面に散布した強磁性体の磁粉（または蛍光磁粉）がキズ部分に吸着、これを観察することでキズの検出が可能になります。日本電磁測器株式会社（NDK）では、「簡単」「確実」「安価」という３つのメリットを持つ磁粉探傷関連製品ラインナップをご用意して「安全と、品質管理における安心」をご提供いたします。
詳しくはお問い合わせ、もしくはカタログをご覧ください。

関連リンク - http://www.j-ndk.co.jp/product/hihakaikensa/magnet…

基本情報非破壊検査装置　磁粉探傷装置

【ラインナップ】
[磁化電源装置]
○3相電源（NQシリーズ）
○携帯型
○単相電源
○複合型2電源
○パルス型（SCシリーズ）
[磁粉探傷装置]
○全自動磁粉探傷装置
○3相全波整流水平型
○実用型（F/Sタイプ）
○複合磁化型（デューベック）
○ハンドマグナ
○周波数変調型
○航空機部品用
○自動車部品用
○受入検査/抜取検査用
○鉄道車軸・台車枠用
[ブラックライト]
○ポータブル型（MIZ-100A）
○ポータブル型（PS-135）
○LED型
○据え付け型
○リング型
○携帯/ペン型ゆーびくん
○紫外線強度計
[蛍光磁粉]
○FMシリーズ
○磁粉分散剤
[周辺機器]
○沈澱計
○銅アミ電極
○磁粉液チェッカー
○JIS A型標準試験片
○標準マグネット

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