BGA実装後の検査にバウンダリスキャンテスターをご提案します。
BGAデバイス搭載基板の品質向上を実現するJTAGバウンダリスキャンテスターのご紹介です。
基本情報バウンダリスキャンテスターのご案内
バウンダリスキャンテスター（JTAG Boundary Scan Tester）とは、インサーキットテスター用のプローブピンが接触できないような高密度な基板でも、制御端子を使う事で検査可能とする検査治具です。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 型番・ブランド名 | Boundary Scan Tester |
| 用途／実績例 | JTAGバウンダリスキャン検査のためのプログラム開発から治具制作、デバッグまでを当社で出来ます。 |
カタログバウンダリスキャンテスターのご案内
取扱企業バウンダリスキャンテスターのご案内
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●プリント基板のパターン設計 ●プリント基板の実装 ●電子ユニットの組立
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