LED開発のスピード、作業性、製品の品質向上に貢献します。
「Effect Optical System II(EOS-II)」は、光計測と電気計測を一発かつ短時間で実現する、LED光計測に完全特化した測定装置です。
200～850nmの幅広い波長領域を精確に解析し、LED開発のスピード、作業性、製品の品質向上に貢献します。
分光器とシステムソースメーターの連動により、容易に光学特性と電気特性が得られます。
【特徴】
○光計測 ～分光特性、光強度、演色性を測定～
○MacAdams楕円に対応
○電気計測 ～電流、電圧、漏れ電流を測定～
○ジンバルとの組合せで配光測定に対応
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基本情報光測定装置『Effect Optical System II』
【仕様】
[分光器]
○受光素子：2048素子リニアシリコンCCDアレイ
○測定範囲：200nm～850nm
○波長分解能：0.11nm～（グレーティング、スリットに依存）
[ソースメーター]
○外形寸法：104mm×238mm×460mm
○入力電圧：AC100-240V 50Hzまたは60Hz
○出力範囲：1μV～200V／1pA～10A／2ch
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取扱企業光測定装置『Effect Optical System II』
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