日本ミルテック株式会社 基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』
- 最終更新日：2015-07-06 09:38:02.0
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過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。
基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』は、過剰検出の低減を実現した基板実装向け3次元AOI装置です。
モアレ縞の光をプロジェクタから実装部品に照射し、その反射光をカメラで撮影します。
その光の位相のズレから部品の高さが計測できます（反射型位相シフトモアレ法）。
この原理を活用し、部品、ICリード部の高さを計測します。
その高さの違いから部品の浮き、ICリードの浮き、欠品等の検査を実施します。
従来の2Dの検査より不良検出が大幅に向上し、その為、2D検査の課題であった過剰検出の低減が図れます。
【特徴】
○OMNI-VISION(R) 2D/3D Inspection Technology
○モアレ縞乱反射の影響回避
○8段カラー照明
○10Mega Pixel Side-Viewer(R) System
詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
基本情報基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』
【特徴】
○3D OMNI-VISION(R)：2D/3D同時検査
○15MegaPixelカメラ搭載
○10MegaPixel Sideカメラの搭載
○コンパクト設計：装置幅900mm
○8段カラー照明：完全同軸落射照明
○テレセントリックレンズの採用
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カタログ基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』
取扱企業基板実装向け3DAOI装置『MV-6 EM OMNI』
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○SMT業界向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務 ○LEDパッケージ工程向け画像検査装置及びその周辺装置の販売とメンテナンス業務 ○大気圧プラズマクリーナーの販売 ○静電気可視化装置の販売
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