株式会社ジャステム P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型)

P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型) http://www.ipros.jp/public/product/image/897/2000240883/IPROS7172999318418700675.JPG ・測定前にセンサは校正用ゲージを使用し、自動で校正を行います。 ・測定位置、測定点数はお客様のご要望に応じます。 株式会社ジャステム 製造・加工機械 > 半導体製造装置 > 半導体検査/試験装置 CJT-01
Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定

φ4”、5”、6”、8”インチSiウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定、比抵抗測定を行いその結果によりあらかじめレシピにて設定したカセットに仕分けを行います。

基本情報P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型)

・測定前にセンサは校正用ゲージを使用し、自動で校正を行います。
・測定位置、測定点数はお客様のご要望に応じます。

価格 -
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発売日 取扱い中
型番・ブランド名 CJT-01
用途/実績例 Siウェーハの厚さ測定、表裏面P/N判定
よく使用される業種 産業用機械、機械要素・部品、製造・加工受託、その他製造

取扱企業P/N判定、比抵抗測定仕分機(CJT-01型)

ロゴマーク赤縦.png

株式会社ジャステム

○半導体産業向け自動機の設計・製作 →工程保証用検査装置、搬送装置など  ・厚さ測定機、厚さ仕分け機、ウェーハ搬送装置  ・ローディング・アンローディング装置、専用加工装置 →自社開発の特許技術 ○その他産業向け自動機の設計・製作 →自動車産業、エネルギー産業、医薬品産業向け  ・画像処理装置、厚さ測定機、専用加工搬送装置 →機器の開発・設計・製作

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