MEMSデバイスの測定に好適！温度環境下測定にも対応
『ULTRA P』は、加速度センサー、ジャイロセンサー等MEMSデバイスの
ファイナルテスト用に開発されたハンドラーです・
独自の搬送方式を用いることで最大96サイトの同時測定数を実現し、低温・
高温測定、6DOF（3ポジション、3軸ジャイロ）の測定が可能。
また、研究開発用にマニュアル測定を行える『ULTRA L』という測定部
ユニットも準備しております。
【特長】
■多数個同時測定（～96DUT）
■高精度温度制御（±1℃以内）
■60OFでの測定が可能
■UPH20,000個以上を実現
■磁気テスト（オプション）が可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報MEMSテストハンドラ『ULTRA P』
【仕様】
■供給・収納
・JEDECトレイ：トレイtoトレイ
■対象デバイス
・種類：QFP、QFN、BGA、CSP 他
・サイズ：2×2mm～
■測定
・同時測定数：2~96
■温度測定
・温度：‐40℃～＋125℃標準 ‐55℃～＋150℃オプション
・分解能：0.1℃
・精度：±1℃
・安定度：±0.1℃
・熱源：ヒータ5.2Kw
・冷熱源：LN2（20～40PSI）
・制御方式：PID制御
・検知方法：温センサ
■測定ユニット
・1次軸（Rrimary Axis）：‐360°～＋360°
・2次軸（Secondary Axis）：0°/＋90°
・3次軸（Third Axis）：0°/＋90°
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログMEMSテストハンドラ『ULTRA P』
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