【開発事例】LDパルスエージングシステム山勝電子工業

LDの初期不良及び寿命評価・データ収集・I-L特性測定が可能な試験システム

『LDパルス応答特性検査システム』はLD（レーザーダイオード）の初期不良
及び寿命評価等を行うと共に、そのデータを収集する事が出来る試験装置と
高速パルス信号をLDに供給し、LDのI-L特性測定等を行う事が出来る
山勝電子工業株式会社の自社開発試験システムです。

当システムはホストコンピュータ部、装置本体（LDドライバー/PD受光部及び
温度コントロール部）から構成されております。

【特長】
■試験項目を対話方式で設定可能
■試験データは装置搭載のハードディスクに記録
■温度設定も可能
■キャリブレーションファイルは保存し後日呼び出す事が可能
■停電等で通電が停止した場合でも同一条件で再運転が可能（PC側にUPS搭載）

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関連リンク - http://www.yamakatsu.co.jp/develop/develop02.html

基本情報【開発事例】LDパルスエージングシステム

【装置仕様】
■外形（W×H×D）
　・本体ラック:1100(W)×1350(D)×1600(H) (mm) ※突起部含む
　・PCラック:700(W)× 650(D)×1290(H) (mm) ※突起部含む
■内装材質：鋼鈑製
■外板材質：鋼鈑製焼き付け塗装仕上げ
■主電源スイッチ(兼保護回路)：漏電ブレイカー（主電源スイッチ兼用）
　　　　　　　　　　　　　　　AC100V 1φ 15A ×2

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