【導入事例多数掲載！】ボード検査システム『JTAGテスト』アンドールシステムサポート

Ｘ線検査では困難なハンダ不良やパターン不良の検出を可能にし、工数の削減や製造品質の向上を実現しました！

「JTAGテスト」は試作開発から量産・メンテナンスまで活用できるツールです。
部品内蔵基板やBGA・TSV等の「見えない・触れない」部品のピンのはんだ不良を検出します。

【掲載企業（全7社）】
■アズビル太信株式会社様…基板実装の検査工程でJTAGテストを導入
■アンリツ株式会社様…LTE測定器の検査にJTAGテストを採用
■株式会社沖電気コミュニケーションシステムズ様…BGA実装基板の不良箇所をJTAGテストで実現
■コニカミノルタ電子株式会社様…JTAGテストと生産ラインのFA化を実現
■サクサテクノ株式会社様…BGA搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定して製造品質を向上
■Spansion inc. 社様…高い安全性が要求される車載機器の検査をJTAGテストで実現
■ティアック株式会社様…開発効率を上げるために試作品からJTAGテストを実施

※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報【導入事例多数掲載！】ボード検査システム『JTAGテスト』

【JTAGテストのメリット】
■製品の品質向上
■検査準備の工数削減
■リペアコスト削減
■見えない触れない基板を検査できる
■廃棄削減によるエコと生産コスト削減

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