株式会社清和光学製作所 近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』
- 最終更新日:2017-04-25 17:37:55.0
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故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします
『PElR2000HR 20X・50X』は、2000nmで80%以上の透過率を維持した対物レンズです。
半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に
威力を発揮いたします。
高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを
透過してくる赤外光で観察が可能です。
※シリコン補正対応いたしますので、ご相談ください。
【特長】
■2000nmで80%以上の透過率を維持
■極微弱な発光の検出に威力を発揮
■シリコン補正対応可能
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』
【ラインアップ】
■PE lR 20X 2000 HR
■PE lR 50X 2000 HR
※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格帯 | お問い合わせください |
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納期 | お問い合わせください |
用途/実績例 | ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』
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