ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』シナジーオプトシステムズ

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光学系

『M-Scope typeH』は、5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル
計測用のNFP計測光学系です。

計測対象サンプルから出射された光束をビームサンプラーにて約5%程度を
反射させ、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像
する方式を採用しています。

これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に
計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に
移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能
です。

【特長】
■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
■最大20倍の観察光学倍率
■同軸落射照明ポートを標準装備
■同軸落射照明装置（オプション）との組合せで顕微鏡画像観察・実像に
よる位置合わせが可能
■光ビーム解析モジュールAP013との併用により、高出力レーザNFP
計測システムの構築が可能

※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。

関連リンク - https://www.synos.jp/system.html

基本情報ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

【仕様（抜粋）】
■方式：ビームサンプラー搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式
■測定対応波長域：400nm-1100nmの計測対応波長範囲から計測波長を選択
■測定可能入射光量：～5W（標準）（応相談）
■対物レンズ倍率：10倍
■N.A.：0.28
■中間レンズ倍率：1倍（標準）、2倍（オプションの中間レンズ2倍仕様時）ほか

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取扱企業ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

シナジーオプトシステムズ株式会社

シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術とセンサ技術を基礎とした製品設計・製品開発を中核とし、光源、精密機構、MEMS、ソフトウエア制御等の周辺技術を付加・融合することにより、さまざまな目的・用途の光学機器・センサ・計測システムの開発を行う会社です。また、独自の光学設計技術・センサ技術・システム設計技術により、お客様のご要求仕様に合致した特殊光学系・センサ・専用システムのご提案と設計・製造も行っています。