表面キズ、異物の検査や欠陥検査に！微細欠陥検査装置中央電機計器製作所

光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。
光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光学分解能「1.8μｍ」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。

【特長】
■検査データと画像を自動で保存
■カメラ画素数：900万画素
■高い光学分解能(1.8μm)で微細な検査箇所も綺麗に見える
■タッチパネルの周辺電極、プリント基板の微細配線の断線、短絡の検査に最適

※詳しくは資料をダウンロード、もしくはお問合せください。

関連リンク - http://www.e-cew.co.jp/products/bskk/bskk01.html

基本情報表面キズ、異物の検査や欠陥検査に！微細欠陥検査装置

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用途／実績例	•タッチパネル等の欠陥、異物などの検査に！ •タッチパネル周辺電極欠陥検査 •シート表面キズ、異物検査 •基板欠陥検査

取扱企業表面キズ、異物の検査や欠陥検査に！微細欠陥検査装置

株式会社中央電機計器製作所

カスタムメイドのテスト・計測・制御システムの開発・設計・製作。ハード・ソフト(LabVIEW/.NET(VB)/VC等)・メカに至るまでワンストップで対応。各種画像検査装置の開発・設計・製作。 ■ソフトウェア設計・製作（LabVIEW、VB、VC）　（日本ナショナルインスツルメンツ（株）アライアンスメンバー） ■AI、画像処理技術を用いた検査システム設計・製作 ■ワンチップマイコン応用システム設計・製作 ■計測制御システム設計開発 ■FA・システム設計・製作 ■インターフェース回路設計・製作 ■電気・電子計測器の校正 ■各種データ収集及び処理 ■エンジニアリング事業（設計者派遣）