走査型電子顕微鏡（SEM） ■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット
単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面を走査型電子顕微鏡（SEM）で観察しました。
PCD（ダイヤモンド焼結体）の刃先表面も観察し、比較しました。
表面の微細な凹凸の違いがはっきりと確認できました。
この違いが加工にどのように影響するか。
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基本情報単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察
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カタログ単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察
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