走査型電子顕微鏡(SEM) ■業界:自動車(試作)/半導体/ロボット
単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察しました。
PCD(ダイヤモンド焼結体)の刃先表面も観察し、比較しました。
表面の微細な凹凸の違いがはっきりと確認できました。
この違いが加工にどのように影響するか。
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基本情報単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察
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