ユアサエレクトロニクス株式会社 『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』
- 最終更新日：2017-09-14 18:14:33.0
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測定範囲最大4インチ！高速、高密度でのマッピングが可能な装置
『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』は、透過光源による、高速、
高密度で蛍光体材料のマッピング評価を行うことができる装置です。
100×100mmエリア、もしくは最大4インチの測定が可能で、
オプションでLED光源（447.5nm標準）切り替えもできます。
また、角度依存性（直角45°）や透過率測定も可能です。
【特長】
■最大4インチの測定が可能
■オプションでLED光源切り替え可能
■角度依存性の測定が可能
■透過率測定が可能
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』
【本体仕様】
■型式：YWafer Mapper YB4
■測定範囲：最大φ4インチ、100×100mm
■マッピング間隔：0.04mm～
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』
取扱企業『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』
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■半導体レーザ試験装置および製造装置の販売 ■LED試験装置の販売 ■バーンイン装置、長期信頼性試験装置の開発・製造・販売
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