株式会社ワイ・ドライブ 比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

他に比類なき高視野・高分解能を実現した、干渉型3Dレーザー走査顕微鏡(視野域:30x50mm・分解能:50nm)

レーザ走査を用いた初めての干渉計測
 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます
●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)
  サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。
  走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能
  セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能
  干渉縞解析ソフトはオプション
●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500)
  円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能
●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000)
  非接触で微細な干渉縞計測可能。
  交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能
  通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます

これらを応用展開した機器
超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ
5×50mmの範囲を3D形状計測できる
●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です
●キズや深い穴の欠陥も検出可能です
●円筒面の形状計測や画像取得も可能です   

基本情報比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

レーザ走査を用いた初めての干渉計測
 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50nmの変化をとらえます
●倒立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7000)
  サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞計測可能。
  走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能
  セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能
  干渉縞解析ソフトはオプション
●円筒用レーザ走査干渉計(型番:LSMi-7500)
  円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能
●正立型レーザ走査干渉計(型番:LSMi-8000)
  非接触で微細な干渉縞計測可能。
  交換レンズは、5mm、10mm、26mm走査レンズ、特注可能
  通常の共焦点レーザ走査イメージャとしても使用できます

これらを応用展開した機器
超広視野共焦点型・高分解能1μm 3D‐レーザ走査イメージャ
5×50mmの範囲を3D形状計測できる
●45度までの傾斜があるものの形状測定が可能です
●キズや深い穴の欠陥も検出可能です
●円筒面の形状計測や画像取得も可能です   

価格情報 お気軽に問合せください
価格帯 500万円 ~ 1000万円
納期 お問い合わせください
※お気軽に問合せください
型番・ブランド名 干渉型 3D‐レーザ走査顕微鏡
用途/実績例 フィルム基材、セラミック基材 などの傷検査

カタログ比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

取扱企業比類なき高視野・高分解能な干渉型3Dレーザー走査顕微鏡

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株式会社ワイ・ドライブ

プリンテッドエレクトロニクス工法向け技術、電子機器の開発 インクジェット技術コンサルティング ■技術 プリンテッドエレクトロニクス。インク飛翔観察装置 カーボン系導電ペースト。285nmUVLED光源 デジタルサーボ制御 ARM系CPUでベクトル制御を実現 ■製品 インクジェット液滴・高精度飛翔観察装置 アナログ系混在電子回路 高速/高精度・各種駆動回路 インクジェット印刷機 CMYK4色/GEN5使用 プリンテッドエレクトロニクス用インクジェット塗布装置 ■インクジェットヘッド駆動基板  リコー社     GEN5ヘッド  京セラ社     KJ4A/B  コニカミノルタ社 KM256LNB-DPN           KM128SNG-MB など  FujiFilm Dimatix SG1024、PQシリーズ など ■ARM系CPUによるデジタルサーボ制御基板  電流ベクトル制御プログラム(d-q座標変換)を3相PWMで実現  ARM系 CORTEX-M3シリーズ 各社のCPU対応

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