スイスビットジャパン株式会社 自己寿命診断レポート機能付きSDカード・マイクロSDカード

HDDやSSDで採用されているS.M.A.R.T.機能搭載のSDカードです。寿命診断項目は13項目(シリーズにより異なります)。

アクセス頻度やエラー情報が見えるSDカード。
書換え頻度やデータサイズ、使用時間に応じて寿命を監視することにより、組込みシステムの開発から検証の場でSDカードのコンディションを正確に把握することが可能です。
寿命診断ツール(Life Time Monitoring)は無償提供で、OS組込みも容易な組込み用プログラムAPI(Windows/Linux)もご用意しています。

■対象製品シリーズ
- SDカード:S-450(SLC), S-46(pSLC), S-45(MLC)
- microSDカード:S-450u(SLC), S-46u(pSLC), S-45u(MLC)

寿命診断ツールの内容
●デバイス情報
- カード情報(モデルID、シリアル番号など)
- S.M.A.R.T.状態
- ファームウェア情報
- ベンダー情報
●データ履歴
- リード/ライトデータ量
- スペアブロックの情報
- 寿命残数 (保証消去サイクルからの相対パス)
- ECC/CRCエラーカウンタ(累積データ)

寿命診断(LTM)ツールには、すべての値の履歴がデバイスごとに記録されます。

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基本情報自己寿命診断レポート機能付きSDカード・マイクロSDカード

デバイスの寿命推定に必要な 書込み/消去回数、バッドブロック統計、ECC訂正回数など、実際のバックグラウンド情報を把握。

診断13項目
●Spare Block(スペアブロック数)
●Average Erase Count(アベレージ消去回数)
●Global Wear Leveling(ウェアレベリングモード)
●Power on counter(電源投入回数)
●Managed flash blocks(管理ブロック数)
●Total flash block erases(ブロック消去回数)
●Total flash read commands(リードコマンド数)
●Total ECC errors(ECCエラー発生回数)
●Correctable ECC errors(ECCエラー修正回数)
●Communication errors(ホスト通信エラー回数)
●Power on data repairs(電源投入時の修正データ数)
●Total Host LBA read(データ読出し量-LBA)
●Total Host LBA written(データ書込み量-LBA)

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
型番・ブランド名 産業・組込み用インダストリアルSDカード、マイクロSDカード。寿命監視ツールにより残存寿命やエラーの兆候を容易に把握。
用途/実績例 ■オートモーティブ(TS16949認証)
- ナビゲーションシステム
- ヘッドユニット/ダッシュボード
- ドライブレコーダー・ボイスレコーダー
- IVIシステム
■産業機器
- モーションコントロール
- 計測・測定・観測機器
- 記録計・データロガー
- ビルテクノロジー関連機器
- 監視機器
■ エナジー関連機器
- スマートグリッド
- 発電装置(基地局・供給)
- 蓄電・伝搬システム
- 風量制御装置
■ヘルスケア
- 臨床POCT機器
- 診断・イメージング機器(内視鏡・X線・CT・MRI・超音波)
- 医療スマートシステム
■Info機器
- デジタルサイネージ
- POS/POI端末
- キオスク端末
- 発券機、自販機
- くじ自動照合機器
■輸送機器
- 車両制御、監視機器(TCMS)
- 料金徴収システム(AFC)
- コンベア・リフト制御/監視機器
- エレベーション機器
■航空・宇宙関連機器
- IFE機器、FMS機器
- 海洋機器
- 防衛・軍事機器、センサーシステム
- C4ISR機器
 

詳細情報自己寿命診断レポート機能付きSDカード・マイクロSDカード

診断ツール オーバービュー
デバイス情報、シリアル番号、ファームウェアのリビジョンなどの確認が可能。

寿命確認項目
スペアブロック数(初期値・使用開始後)、消去回数、ウェアレベリング実行数などの確認が可能。

使用デバイスの統計情報
電源投入数、管理ブロック数、ブロック消去回数、リードコマンド数、ECCエラー発生回数、ECCエラー修正回数、データ転送エラー数、修正データ数、LBAリード数、LBAライト数の確認が可能。

蓄積データ情報
ECC/CRCカウンタなどの蓄積データ情報の確認が可能。

Swissbitではコネクタ部分の金端子腐食を防止するため、8μm厚の金メッキを採用しています。
スロットへの挿抜を繰り返す場合に、下地のニッケル腐食を要因とした金端子の不具合発生を防ぐ対策です。
この不具合は、下地ニッケルメッキを通して金メッキ上に現れる腐食孔(赤錆)が原因で発生する短絡・接触不良やノイズ発生といったものがほとんどです。

DMGテスト(ジメチルグリオキシムによるニッケルの呈色反応検出)をパスしたSDカードは、金端子表面への腐食析出なく20,000回以上の挿抜サイクルを可能にしました。

COB(chip on boad)実装とエポキシ封止により、NAND フラッシュ、コントローラー、受動部品等の実装部品を全て保護しています。
防湿強化、トルク屈曲耐性強化、外圧からの半田不良防止、ESD 対策な、高い安定性と耐久性を重視して設計されています。
また、コネクタの金メッキ厚8μm を採用し、腐食による経年劣化を防止、挿抜回数20,000 回を実現しています。

カタログ自己寿命診断レポート機能付きSDカード・マイクロSDカード

取扱企業自己寿命診断レポート機能付きSDカード・マイクロSDカード

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スイスビットジャパン株式会社

■産業用システム・組込みシステムに特化した NANDフラッシュストレージ・セキュリティ製品の開発・設計・製造。 =製品ラインナップ= - 2.5インチSSD - SATA SSDモジュール(mSATA, slimSATA, m.2SATA) - CFカード - CFexpressカード - CFastカード - SDカード、マイクロSDカード - EMMC・マネージドNAND - PCIe SSD モジュール - USBフラッシュメモリ、USB内蔵型メモリUFD-I - セキュリティSD/microSD/USB-nano ■mcroSDカード、SDカードをフォームファクタとするセキュリティ製品の設計、製造。 ■セキュリティ用ファームウェア、ドライバーの設計 ■小型・高密度製品の設計・製造 (SMT・CSP・COB・Flip Chip・Die stacking・Multi Chip製造技術を用いたSIP製品の開発・製造、および EMSでの設計、開発から製造まで。) ■カスタマイズ製品の設計、開発、製造からテスト工程までのコンサルティングサービス。 ■技術サポート・FAEサポート

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