成形不良やショット数減などの問題を解決した、突起削減試験を分かりやすく解説
『光ディスクスタンパーのトラブルシューティング』は、
光ディスクスタンパーにおける「突起」の解消と生産性の両立を
目指して行った、突起削減試験を紹介しています。
光ディスクを裏面研磨する際、成形不良や信号面凸発生、ショット数減
などの原因として「突起」があげられます。
仕上げ電鋳、フィルターの見直し、ピット防止剤の選定など、
さまざまな工程を経て、最終条件による6ヶ月のロングラン試験では、
「突起」の発生率が激減し、粗研磨で対応可能となる結果を得ました。
【掲載内容】
■ニッケル電鋳によるスタンパー
■スタンパーの製造行程
■裏面突起不良
■突起削減試験
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報【技術資料】光ディスクスタンパーのトラブルシューティング
【突起削減試験の概要】
■仕上げ電鋳条件/結果
■アンモニア濃度管理
■光沢剤添加試験
■フィルターの見直し
■フィルター取付前後のめっき液分析
■ピット防止剤の選定
■最終条件によるロングラン試験
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用途/実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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