株式会社アヤハエンジニアリング オフライン検査装置『MICRO ACEシリーズ』
- 最終更新日：2018-03-19 17:05:43.0
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カスタマイズ対応可能！高分解能検査ができるオフライン検査装置をラインアップ
『MICRO ACEシリーズ』は、アヤハエンジニアリングが取扱う
オフライン検査装置です。
分解能0.7μ～超高分解能検査が可能な「OMI-UL」は、3D計測器と連携でき、
検査MAPからボタン1つで欠陥の深さを測定することが可能です。
他にも、コンパクトタイプの「OMI-SP」や、10～100μで簡易検査が可能な
「OMI-FE」などをラインアップしています。
【特長】
＜OMI-UL＞
■分解能0.7μ～超高分解能検査が可能
■焦点深度が広く欠点の全形撮像が可能、ピントによるバラツキなし
■豊富な光学系の組み合わせと、画像処理による欠点種弁別が可能
■レーザー顕微鏡（オプション）の3D計測による欠点解析が可能
■ディスプレイ、電子材料、電池向けなど先端素材の研究開発シーンでも活躍
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報オフライン検査装置『MICRO ACEシリーズ』
【その他の特長】
＜OMI-SP＞
■分解能2.8μ～10μでの検査に適す
■人による顕微鏡検査の自動化、定量化に好適
■フィルムやガラスのμmレベルの凹凸欠点、偏光輝点、キズの検出が可能
＜OMI-FE＞
■分解能10uからの簡易検査が可能
■A4サイズを約10秒で測定
■検査結果マップを等倍で印刷し、マップと欠陥サンプルを直接比較可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■製品開発時 ■工程改善時 ■最終工程時 などに ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログオフライン検査装置『MICRO ACEシリーズ』
取扱企業オフライン検査装置『MICRO ACEシリーズ』
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○表面欠陥検査装置の設計、製造、販売 ○マーキング装置の設計、製造、販売
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