『積層プローブ（特許技術）』※事例紹介付きカタログインクス

最小0.05ｍｍの狭ピッチ測定から、大電流パワー半導体まで。

積層プローブは、プローブが１つのパーツである為、構造的に導電ロスがなく、電流値をダイレクトに測定する事ができ、安定した接触抵抗値が実現できます。
また、最小ピッチ0.05ｍｍに対応可能なため、狭ピッチを利用したケルビン測定も可能で安定した測定が出来ます。

積層プローブの優れた特性は、狭ピッチにプローブを配置するだけでなく大電流を印加するパワー半導体のプローブとしても性能を発揮します。

【特徴】
■接触抵抗値が安定しているため精密な測定に威力を発揮
■大電流、高電圧に対応できるのでパワー半導体への印加、測定に貢献
■狭ピッチに対応できる　※最大0.05ピッチまで可能
■コンタクトする荷重を調整できる

【事例】
◎狭ピッチかつ多点でコンタクトする
◎BGAに確実にコンタクトができケルビン測定で安定した測定ができる
◎半田メッキのリードフレームに安定してコンタクトできる
◎狭スペースに対応出来る（LED検査装置向け）

※ＰＤＦからは、事例のご紹介をご覧いただけます。
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基本情報『積層プローブ（特許技術）』※事例紹介付きカタログ

■プローブを積層する枚数によって、流せる最大電流値が変わります。
■規格品以外の対応
・絶縁フィルムの厚みの選択により、プローブピッチをアレンジすることができます。
※絶縁フィルム板厚変更により、耐電圧値が変わります。
・接触圧は板バネの厚みを指定することで選択が可能です。

◎インクスでは、お客様のこ希望による特別仕様品製作、治具加工も承っております。