組立工程における工程能力管理の課題を解決！数値による解析と定量化を実現！
『LI330』は、IC製造工程での能力管理用簡易外観装置です。
成形金型異常・劣化の兆候などを高精度測定し、
数値による解析と定量化を実現します。
また、金型の寿命管理と延命化を実現。金型交換サイクルの
最大化（金型コスト削減）が可能です。
【活用事例1】
■統計データグラフから金型異常を早期発見
■特定リードの曲がり異常を発見
■原因：成形金型異物付着による成形異常→工程へフィードバック
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報簡易外観装置『LI330』
【活用事例2】
■成形時に発生した加工バリを高精度に検出（検査分解能5μm/画素）
■出来映え評価時に金型形状異常により発生していた
カットバリを検出（幅約8μm）
■工程へとフィードバックし加工不良を最小化
【活用事例3】
■金型摩耗で発生するタイバーカット残り量を計測し、金型交換サイクルの
定量管理を実現
■規定ショット数での無条件交換→傾向を管理し、延命化
■摩耗により生じるカット残り量を計測し、摩耗兆候を数値
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ簡易外観装置『LI330』
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