シエンタ オミクロン株式会社 ARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）
- 最終更新日：2018-07-19 15:05:49.0
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ARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）、XPS観察・測定に使用される装置です。
【用途】
ARPESでのXPS観察・測定
―‐‐以下英文による紹介です。
The ARPES-Lab brings together the world leading instrumentation for ARPES:
●Outstanding performance ARPES system with unchallenged energy and angular resolution
●Intelligent integration and automation
●Revolutionary DA30 deflection mode operation:
- Improved ky accuracy
- Matrix element effects are avoided by keeping sample fixed
- Ensures same sample point for all k//
※詳細はお問い合わせいただくか、PDF資料をダウンロードしてください。
基本情報ARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）
●Detectors for Spin-resolved measurements available
●4, 5, or 6 axis cryo cooled manipulator options
●Highest flux monochromated lab UV source for fast measurements
●True UHV during operation for long lifetime of samples
●Tailored UHV system for high performance ARPES
●Flexible system design for future upgrades and extensions
※詳細はお問い合わせください。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ARPESでのXPS観察・測定 ※詳細はお問い合わせしてください。 |
カタログARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）
取扱企業ARPES-Lab （ARPES光電子分光分析システム）
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○固体表面の分析・評価技術、製膜技術 ○関連装置の輸入と開発・製造・サービス・販売
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