八光オートメーション株式会社 フィルムの表面に発生するシワのような微小歪を高精度に検出可能!
- 最終更新日:2023-02-01 09:55:29.0
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フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測!10μmの微小歪を幅400mmの広範囲にわたり一度に計測できます!
面歪スキャニングセンサ『LINE STRIPER FV』は、
フィルムの微小歪をインラインで高精度に計測できます!
独自に開発したMR法(Mesh Reflection)にて歪を計測し、
対象物にスリット照明を映し込み、照明の歪み量から曲率を算出します。
本手法は、AFM(原子間力顕微鏡)などで使用されている、
光てこの原理で歪を増幅して計測するため、
パターン投影型の3D計測機に比べ高精度に計測/測定が可能です。
【特長】
■高感度
一般的な3D計測機では測定困難な数μmの微小歪を計測することが可能
■広範囲
幅400mmの広範囲をインラインで連続計測が可能
■可視化
計測結果は曲率カラーコンター図で表示されますので、
微小歪部が一目瞭然!
※詳しくはPDFをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報フィルムの表面に発生するシワのような微小歪を高精度に検出可能!
【仕様】
■型式 :HIU-LS400-FV
■設置距離(ヘッド~サンプル間距離):150mm
■合焦範囲 :±25mm
■計測範囲 :幅400mm ※1
■歪検出能力 :Z=10μm以上の面歪を検出可能
■計測速度 :40mm/sec ※2
■電源 :AC100V 300W以下
■ケーブル長(ヘッド~PC間) :3m
■耐環境性/使用温湿度 :5~35℃ 30~80%RH (ただし結露なきこと)
■質量 :質量ヘッド部:約2.5kg
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