日本インテグリス合同会社 粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』
- 最終更新日：2021-04-06 15:23:53.0
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『Nicomp Nano 3000シリーズ』は、動的光散乱法（DLS）による粒度分布測定と電気泳動光散乱法（ELS）によるゼータ電位測定を、一台で迅速かつ簡単に行えます。
粒度分布測定においては、高出力レーザーと高感度検出器の組合せにより、シングルナノ粒子からの測定を実現させます。
ゼータ電位測定においては静止層へ光学的調整が一切不要な構造を採用しているため、どなたでも簡単にゼータ電位を測定することができます。
また、PALS 測定機能は高塩濃度条件化でのゼータ電位測定範囲を一層広げられます。
粒度分布、ゼータ電位測定共に共通の角型使い捨てセルを使用できますので、汚れの影響を受けず、またサンプル調整をし直すことなく両方の測定が可能です。
【特長】
■優れた再現性
■高速演算プロセッサの搭載
■静止層の焦点合わせの不要（ゼータ電位）
■使い捨てセルの採用
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』
【その他の機能】
■自己相関関数の累積高速演算処理機能
■統計的に測定結果の信頼性を確認するリアルタイムトレンドグラフ表示機能
■カイ二乗によるキュムラント法またはヒストグラム法の自動選択機能
■コンタミや凝集の影響を排除するベースラインアジャストメント機能
■SUVリポソーム測定機能 など
【仕様】
■測定原理：レーザードップラー法（ホモダイン/粒度分布、ヘテロダイン/ゼータ電位）
■光源：15mW半導体レーザー
■検出：フォトカウント用光電子増倍管（PMT）（光ファイバー狭角コリメータアッセンブリ併用）
■コーリレーター：32 bitデジタルオートコーリレーター（DSP搭載）
■温度制御：設定温度：5℃～80℃
■測定範囲：1nm～5μm（粒度分布）、－100～＋100mV（ゼータ電位）
■電源：AC100V・11A
■寸法・重量：410（W）×560（D）×230（H）mm・15kg
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』
取扱企業粒度分布・ゼータ電位測定器『Nicompシリーズ』
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液体・ガスの精密ろ過／精製製品：フィルター、ピューリファイヤー、ガス精製システム。 ガスシリンダー製品：イオン注入プロセス用ガスシリンダー。 液体の移送製品：バルブ、継手、サニタリー配管部品、薬液容器・送液システム。 液体の制御／管理製品：ディスペンスシステム、流量コントローラ、流量計、濃度計、溶存酸素濃度計、個数カウント式粒度分布測定器、ゼータ電位測定器、薬液濃度モニタリングシステム。 デバイスの保護／搬送関連製品：ウェーハ／ディスクシッパー、ウェーハ／ディスクキャリア、ウェーハ／レチクルポッド、チップトレー。 特殊材料関連製品：高純度グラファイト、シリコンカーバイト、PVDコーティング（イットリア、アルミナ等）、 PECVDコーティング（シリコン、SiC、DLC等）。 表面処理材料・部材関連製品：CMP後洗浄用薬液、エッチング後洗浄用薬液、ダマシンプロセス用銅めっき液、CMPスラリー、CMP後洗浄用ブラシ、CMP用パッドコンディショナー。 先端成膜材料製品：各種絶縁膜材料、有機金属材料、High-k材料、固体成膜材料容器、液体材料供給システム 上記製品の開発、販売、サービス。
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