ウインテスト株式会社 検査・評価受託サービス

検査・評価受託サービス http://www.ipros.jp/public/product/image/fc7/2000417494/IPROS41440266253701051026.png 【各種検査機器】 ■LSIテスタ ■LCDテスタ ■メモリーテスタ ■各種バーイン装置 ■ICハンドラー ■ノイズ試験機 ■高速オシロスコープ ■Flashライター ■スペクトル・アナライザー ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ウインテスト株式会社 測定・分析 > 検査機器・装置 > その他検査機器・装置
バーイン試験を必要とするデバイス検査、特殊な評価などに対応!

ウインテスト株式会社では、半導体検査装置50年の実績と経験を駆使して安心、安全の
環境にてさまざまな検査・評価の受託サービスを承っています。

LSIテスタ、メモリーテスタ、高速オシロスコープなど
各種検査機器を保有。

バーイン試験を必要とするデバイス検査、評価をはじめ
たいへん難しい試験、検査、特殊な評価なども行っております。

【特長】
■バーイン工程
・バーイン試験を必要とするデバイス検査、評価に
 先端モニターバーイン装置が活躍
■特殊ケース
・半導体メーカーが試験できない項目、たいへん難しい試験、検査、
 特殊な評価など

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報検査・評価受託サービス

【各種検査機器】
■LSIテスタ
■LCDテスタ
■メモリーテスタ
■各種バーイン装置
■ICハンドラー
■ノイズ試験機
■高速オシロスコープ
■Flashライター
■スペクトル・アナライザー

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【検査、評価実績(抜粋)】
■自動車用マイクロコンピュータ
・特性試験、リーク電流と寿命試験
■DRAM,SRAM
・フェイルビット解析、動作マージンテスト
■IGBT
・短絡試験、逆電圧復旧時間測定、L負荷試験

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カタログ検査・評価受託サービス

取扱企業検査・評価受託サービス

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ウインテスト株式会社

■各種半導体テスト装置の開発及び製作 ■各種半導体信頼性試験装置の開発及び製作 ■各種信頼性試験用ボード設計及び製作 ■フィールドメンテナンス ■ICハンドラの開発及び製作 ■ROM書込みサービス ■各種半導体テストプログラムの開発支援 ■各種解析プログラム・制御プログラムの開発支援

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