ブルカージャパン株式会社 FT-IR分光計『INVENIO S』

ブルカーの革新技術で生産性向上!お客様のFT-IR分析を最大限に活用します!

『INVENIO S』は、日常分析やラボでの
高度な分析における効率性の最大化を重視した、FT-IR分光計です。

SoC (system-ona-chip) エレクトロニクス、高精度な光学系、そして
総合的に高度な設計品質により、優れた赤外測定感度を実現しています。

また、当製品は様々なIRアプリケーションに適合。
試料のタイプにかかわらず、最適化されたアクセサリと拡張機能が、
適した実験条件を提供します。

【特長】
■定義済みのワークフローによるユーザーフレンドリーなタッチ操作
■統合されたATRアクセサリ
■第2透過試料室 (Transit)
■アップグレード対応 (UV/VIS-FIR、TRS)
■豊富なサンプリングアクセサリ

※詳しくは外部リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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基本情報FT-IR分光計『INVENIO S』

【その他の特長】
■固体、液体、気体の分析
■装置性能自動試験機能
■分光計の状態を常時モニタリング
■各種医薬品規制に準拠
■赤外顕微鏡、TGA、ハイスループットスクリーニングアクセサリなどの増設
■ブルカー特許のパーマネントアライメント、RockSolid干渉計

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■品質管理
■故障解析
■ライフサイエンス
■環境
■定量
■法医学
■美術および修復
■表面分析
■その他

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カタログFT-IR分光計『INVENIO S』

取扱企業FT-IR分光計『INVENIO S』

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ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

物質工学、材料科学、環境科学、生命科学などの先端研究分野と、食品、農業、医薬品、化学、石油化学、電気電子等の産業界における製品開発、生産管理、品質管理を対象とした、赤外・近赤外・ラマンの各分光分析装置ならびに周辺機器と、それらに付随するアフターサービスを提供しています。

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