MSHシステムズ株式会社 AFM/SPM用校正グレーティング

最終更新日：2020-08-27 09:51:28.0
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豊富な種類のグレーティングを用意。校正用、テスト測定用に好適。

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用の校正グレーティングです。
校正の種類や評価に応じて、適切なグレーティングをご選択頂けます。
装置の校正作業の他、学生実験などのテスト測定にもご使用頂けます。

・Z軸校正
・X軸またはY軸の1軸校正
・スキャナーの水平または垂直校正
・ノンリニアリティの検出
・ヒステリシスの検出
・クリープの検出
・角変形の検出
・クロスカップリングエフェクトの検出
・AFM/SPMプローブのティップの形状と鋭さの評価
・ティップの劣化・汚染防止

関連リンク - https://www.msh-systems.com/products/tn-spm-consum…

基本情報AFM/SPM用校正グレーティング

原子間力顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用の校正グレーティングです。
9種類のグレーティングを夭死しており、校正の種類や評価に応じて、適切なグレーティングをご選択頂けます。
装置の校正作業の他、学生実験などのテスト測定にもご使用頂けます。

価格帯	お問い合わせください
納期	お問い合わせください ※型名・数量によって納期が変動しますので、お気軽にお問い合わせください
用途／実績例	・AFM/SPMの校正作業・学生実験などのテスト測定

ラインナップ

型番	概要
TGZ1	Z軸校正用グレーティング・高さ　20nm (typical)
TGZ2	Z軸校正用グレーティング・高さ　110nm (typical)
TGZ3	Z軸校正用グレーティング・高さ　520nm (typical)
TGZ4	Z軸校正用グレーティング・高さ　1517nm (typical)
TGQ1	XYZ軸の同時校正用グレーティング・3軸同時校正・スキャナーの水平校正・水平ノンリニアリティ、ヒステリシス、クリープ、クロスカップリングエフェクトの検出
TGT1	剣山状の校正グレーティング・AFM/SPMプローブのティップの形状と鋭さの評価・ティップの劣化・汚染防止
TGG1	山の稜線状の校正グレーティング・X軸またはY軸の校正・水平または垂直スキャナーのノンリニアリティ検出・角変形の検出・ティップ特性評価
TGX1	台形状構造の一部が切り落とされたような形状の校正グレーティング・水平スキャナーの校正・水平ノンリニアリティ、ヒステリシス、クリープ、クロスカップリングエフェクトの決定・ティップの鋭さの決定
TDG01	サブミクロンレベルの校正のためのグレーティング・X軸またはY軸の校正 (278nm period)