シナジーオプトシステムズ株式会社 光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
- 最終更新日：2019-07-01 14:27:05.0
- 印刷用ページ
『M-Scope type HS』は、1～10Wクラス高出力レーザのNFP・
発光ビームプロファイル計測用光学系です。
計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、
2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて
2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。
これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの
発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。
【特長】
■ビームサンプラー（対物レンズ後方2段）と減光フィルタの組合せにより
高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰
■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能
（M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ）
■コリメート光計測が可能（対物レンズ無装着状態）
■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置（オプション）との
組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
【仕様（抜粋）】
■方式：ビームサンプラー（対物レンズ後方2段）搭載型NFP計測光学系+画像処理解析方式
■測定対象入射光量：1～10W
■減光方式：2段ビームサンプラーにより約99.99％減光（反射光はビームダンパーにより遮蔽）、およびフィルタポートへの減光フィルタ挿入併用方式（最大2枚まで同時挿入可能）
■測定対応波長域
・M-Scope type HS/BL:400nm-450nm
・M-Scope type HS/NIR:850nm・940nm
※上記以外の計測波長対応に関してはご相談ください
■偏光依存性補償：ビームサンプラー内蔵減衰ミラー2段直交配置による偏光依存性補償
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | お問い合わせください |
|---|---|
| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | 【応用分野】 ■高出力レーザ・高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ■LiDAR用、レーザヘッドライト用等の車載光エレクトロニクス部品やシステム開発 ■生体認証用レーザモジュールの開発 ■その他、医療用、固体レーザ励起用、印刷用等の高出力レーザおよび高出力レーザモジュールの発光ビームプロファイル計測やビーム形状計測・解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
カタログ光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
取扱企業光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』
-
-
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術とセンサ技術を基礎とした製品設計・製品開発を中核とし、光源、精密機構、MEMS、ソフトウエア制御等の周辺技術を付加・融合することにより、さまざまな目的・用途の光学機器・センサ・計測システムの開発を行う会社です。また、独自の光学設計技術・センサ技術・システム設計技術により、お客様のご要求仕様に合致した特殊光学系・センサ・専用システムのご提案と設計・製造も行っています。
光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』へのお問い合わせ
お問い合わせ内容をご記入ください。
