マール・ジャパン株式会社 【測定事例:電子部品・半導体編】『MarSurf CP/CL』

ウエハー、マイクロビア、ワイヤーボンディング、表面実装部品、ダイアタッチ、携帯電話用スピーカー 他 ◆『測定事例集』進呈中 ◆

光学式3D表面形状測定機『MarSurf CP/CL』による、
電子部品・半導体の測定事例です。


◆『測定事例集』進呈中!◆
『測定事例集』PDFに、実際の測定データを掲載しております。
ダウンロードの上、ご高覧下さい。


■測定部品例 --- □評価項目例
■ウエハー -バンプ --- □断面粗さ(R/2D) □形状・寸法 □ステップハイト □3D高さ・2Dサイズ
■マイクロビア --- □ステップハイト □断面粗さ(R/2D)
■ワイヤーボンディング --- □ステップハイト(ループ高さ) □トポグラフィーレイヤー □形状
■表面実装部品 --- □位置度 □寸法 □ステップハイト
■ダイアタッチ --- □3D画像 □厚さ、高さ □最大高さ □サイズ(長さ) □表面粗さ(S/3D)<ISO 25178準拠> □形状(高さ、輪郭) □ステップハイト
■フィルム --- □厚み
■携帯電話用スピーカー --- □表面粗さ(S/3D)<ISO 25178準拠>、平坦度
■ウエハ― --- □研磨 □反り

☆お客様個別の測定事例について、お気軽にご相談下さい。

基本情報【測定事例:電子部品・半導体編】『MarSurf CP/CL』

◇『測定事例集』進呈中!
 『測定事例集』PDFに、実際の測定データを掲載しております。ダウンロードの上、ご高覧下さい。

◇ 日本語版製品カタログをリリース致しました(2019年7月)。
  当ページから電子版をダウンロード頂けます。郵送も可能です。是非お問い合わせ下さい。

◇ お客様個別の測定事例について、お気軽にご相談下さい。
  最適なソリューションをご提案させて頂きます!
 
※PDFダウンロード時に表示される『興味を持ったきっかけ』の欄は株式会社イプロスのAIによって表示されております。
 

価格帯 1000万円 ~ 5000万円
納期 お問い合わせください
※納期についてはお問い合わせください。
型番・ブランド名 光学式 3D表面形状測定機 / MarSurf CP、 MarSurf CL
用途/実績例 【測定事例:電子部品・半導体】
■ウエハー
■マイクロビア
■ワイヤーボンディング
■表面実装部品
■ダイアタッチ
■フィルム
■携帯電話用スピーカー

☆お客様個別の測定事例について、お気軽にご相談下さい。
 最適なソリューションをご提案させて頂きます!

ラインナップ

型番 概要
MarSurf CP select あらゆる製品の品質管理に最適な、光学式3D表面形状測定機。 測定・解析の自動化に対応。 測定対象物にキズをつけない非接触測定。 大型/重い測定物や、高低差が大きい測定物に対応。 光沢のある表面(層厚測定・透明試料)の測定も可能です。
MarSurf CL select 大型の測定対象物の超高速かつ高精度な表面形状測定を実現。 サイズ 100mm × 100mm を最短1分で測定。 測定・解析の自動化に対応。 測定対象物にキズをつけない非接触測定。 大型/重い測定物に対応。 光沢のある表面(層厚測定・透明試料)の測定も可能です。

カタログ【測定事例:電子部品・半導体編】『MarSurf CP/CL』

取扱企業【測定事例:電子部品・半導体編】『MarSurf CP/CL』

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マール・ジャパン株式会社

製造業向け精密測定機器の製造・販売・メンテナンス 【主力製品群】 ■測定ステーション■ ◇ギヤ用 全自動 表面粗さ/歯車測定機 ◇レンズ用 表面形状/3D測定機 ◇シャフト/円筒形状用 形状測定機 ◇真円度・形状・表面粗さ(・三次元)統合測定機 ◇表面粗さ・形状測定機 ◇3D表面形状測定機(センサー/共焦点顕微鏡) ◇校正用 横型万能測長機 ◇ダイヤルゲージ用 全自動検査機 ◇ブロックゲージ用 検査機 ■測定基準ゲージ■ ◇ブロック/リング/ディスク/ピンゲージ ■ハンドツール■ ◇ポータブル型表面粗さ計 ◇高さ/長さ測定機 ◇電気マイクロメータ&測定プロ―ブ ◇指示式測定器 -- 汎用(内径外径)/小外径用 -- スナップゲージ/ネジスナップゲージ/ボアゲージ ◇ワイヤレスデジタル及びアナログ測定工具 -- ノギス/デプスゲージ/マイクロメータ -- インジケータ/ダイヤルゲージ/コンパレータ ◇デジタル及びアナログ -- テストインジケータ/3Dプローブ ◇測定スタンド ◇ハンドツール用測定ソフトウエア -- 測定データ転送用/汎用測定用

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