日本シーレーク株式会社 水浸法超音波探傷試験システム
- 最終更新日：2019-08-28 17:08:21.0
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当社独自の、リアルタイムBスキャン、Cマップ、エンコーダーによる位置情報
当社の自社開発による水浸法超音波探傷試験システムは、アンプを
二つ用いることにより内外面の探傷感度を個別に設定できます。
また、通常プローブ引抜速度を速くすると粗い探傷になりますが、
パルス繰返し周波数（30khzオーバー）の設定により、インチサイズ
以下の管については、速く引き抜いても高い精度の探傷が可能です。
探傷速度は当社比で2～4倍になります。
【当社IRISの特長】
■DUALアンプ
■高速スキャン
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基本情報水浸法超音波探傷試験システム
【仕様】
■適用材質：金属（磁性、非磁性）
■適用管寸法：内径10～75mm
■適用範囲：最大28ｍ（管端10mm不可、スケール部不可）
■探傷速度：200～1000m/日（チューブ仕様、減肉形態、適用方法による)
■測定点間隔：周軸共に0.5mm～（チューブ仕様による） など
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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カタログ水浸法超音波探傷試験システム
取扱企業水浸法超音波探傷試験システム
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■非破壊検査 ・内部きず検査 ・外部（表面）きず検査 ・特殊検査 ・その他
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