SYCATUS株式会社 光雑音アナライザ『A0040A』
- 最終更新日：2023-12-05 18:39:50.0
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通信・センシング用レーザの光周波数雑音を簡単に測定！オプションでFMCW LiDARの光周波数変調特性の解析を搭載可能！
A0040A 光雑音アナライザは、光周波数雑音測定機能に、A0020A レーザ線幅測定システムの機能を統合した、総合光周波数雑音解析ソリューションです。
A0020A レーザ線幅測定システムの機能を合わせ持つことにより、従来の
線幅測定からレーザの光周波数雑音測定へのシームレスな移行を可能にします。
また、オプションでA0070A 光周波数アナライザのFMCW LiDAR光周波数変調解析機能をA0040A 光雑音アナライザに搭載可能です。
【特長】
■光周波数雑音特性をスペクトラムとして255 MHzまで取得
■1/f雑音、白色雑音、ローレンツ線幅等を解析
■ITLA等のデジタル・コヒーレント用光源評価に好適
■A0010A RIN測定システムと統合可能
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報光雑音アナライザ『A0040A』
【仕様】
■光波長帯域：1260nm～1620nm
■光周波数雑音測定帯域：5 Hz～255 MHz
(シグナル・アナライザのオプションに依存)
■光周波数雑音測定最小値：0.6 mHz2/Hz(@1 MHz)
※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせください。
| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 納期 | お問い合わせください |
| 用途／実績例 | ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。 |
カタログ光雑音アナライザ『A0040A』
取扱企業光雑音アナライザ『A0040A』
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光通信または光センシングに用いられるレーザの雑音特性および変調特性を評価する測定システムの提案・設計・開発・製造・検査・導入・保守
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