【サンプル測定デモルーム手配のご相談承ります】ENT-NEXUS エフ・アイ・テック

高荷重(5μN～2,000mN)、低荷重(0.5μN～10mN)のユニット選択式インデンテーション試験機です。

【サンプル測定、デモルーム手配のご相談承ります】

ENT-NEXUSは非常に高い測定能力と豊富なオプション、選択式ユニットにより幅広い高度な測定が可能です。
測定ソフトウェアはイージーオペレーションを追求しており、作業者の負担軽減にも貢献することができます

【主な特徴】
・座標、条件登録による自動測定
・アクティブ除振台を標準装備
・シールドケース内を±0.1℃で温度管理、高いデータ再現性を実現
・ユニット式のため、点検時等ユニット交換による対応が可能
・官公庁、大手メーカーへの導入実績多数

基本情報【サンプル測定デモルーム手配のご相談承ります】ENT-NEXUS

▼高荷重ユニット仕様
荷重：5μN～2,000mN
荷重分解能：5nN
計測範囲：0～100μm

▼低荷重ユニット仕様
荷重：0.5μN～10mN
荷重分解能：0.03nN
計測範囲：0～100μm

▼フレーム/ステージ仕様
最大試料サイズ：200mm X 100mm X 50mm
最小移動ステップ：0.1μm
測定可能領域(ユニット2式搭載時)：X:100mm Y:100mm Z:10mm
測定可能領域(ユニット1式搭載時)：X:170mm Y:100mm Z:10mm
ユニット搭載数：最大2式
対物レンズ：20倍
モニター倍率：500倍(デジタルズーム使用時)

▼オプション(一部)
表面プロファイル試験
粘弾性試験(加熱可)
粒子強度試験
加熱負荷除荷試験
軟化温度測定
電気抵抗値試験
その他のオプションについてはカタログをご参照ください

価格情報	お問い合わせください
価格帯	1000万円 ~ 5000万円
納期	お問い合わせください ※時期によって変動しますので、お気軽にお問い合わせください
型番・ブランド名	ENT-NEXUS
用途／実績例	金属：メッキ膜、スパッタ膜、ワイヤ薄膜：DLC、レンズ上の光学薄膜、HDD保護膜半導体関連：絶縁膜、電極、レジスト材樹脂：UV硬化性樹脂粉体：トナー、金属粉、樹脂球、微小ガラス球生体材料：歯、骨、歯科用樹脂