株式会社イオンテクノセンター半導体分析

各種半導体の様々な目的に合わせて、各種手法で分析が可能！

半導体の微細な形状の観察、結晶性評価、不純物濃度測定、硬度測定、故障解析など　各種手法により研究開発のサポートを致します。

半導体材料分析項目

原子レベルの構造観察、結晶構造、転位密度、膜厚
表面形状、断面構造(膜厚)
結晶性(面方位)、積層膜の周期構造
表面組成、結合状態、深さ方向分布
不純物濃度、深さ方向分析
結晶構造、応力歪
構成元素、組成
表面のヤング率、硬度

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用途／実績例	半導体分析は国内企業様、大学様に多くご利用頂いております。