株式会社アイテス 【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

X線透視観察・斜めCT観察・直交CT観察など!BGAはんだクラック解析事例のご紹介

X線透視・CT検査装置によるBGAはんだクラック解析事例をご紹介します。

電気的にオープンとなった基板のBGA接続部をX線透視で観察したところ、
BGAの接続部にクラックが発生している様子が確認されました。

また、X線透視観察にて確認されたはんだ接続部のクラックについて、
斜めCTで観察してみました。

斜めCTでは平面的な情報は綺麗に取れますが、はんだボールやボイドのような
球形は斜めCT特有の要因により、上下方向に延びたような形状になります。

はんだ接合界面に発生しているクラック情報を断面的に得ることは困難ですが、
基板を非破壊で観察できるというメリットがあります。

【解析事例】
■X線透視観察
■斜めCT観察
■直交CT観察
■断面観察

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基本情報【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

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価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途】
■X線透視・CT検査装置

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カタログ【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

取扱企業【X線透視・CT検査装置】BGAはんだクラック解析事例

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【解析・信頼性評価事業】  ■電子部品各種データ収集から故障解析までの解析・評価  ■研究開発・製造における原材料評価および特性評価 【検査装置開発事業】  ■太陽光パネル検査・測定器の開発・販売 【電子機器修理事業】  ■産業用機器およびパソコンの修理 【ウェハー加工事業】  ■ウェハー加工サービスおよび販売

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