プレシテック・ジャパン株式会社 高精度かつ高速な形状測定を実現するセンサ

インライン検査に。70,000ポイント/秒のスキャンに対応。膜厚も測定可能。半導体ウエハ検査用途に。

当社では、最大直径80mmの3D形状測定が高速で行える
超高速光学スキャナー『Flying Spot Scanner(FSS)』と、
専用センサを組み合わせたシステムを提供しています。

平坦度、厚み、形状、縦と横の層と部品配置などを
高精度かつスピーディーに測定可能。

センサも幅広く取り揃えており、
要求される測定範囲や精度に合わせて選択できます。

【FSSの特長】
■高精度:Z方向分解能最小5nm
■高速スキャン:70,000ポイント/秒
■インライン測定に好適
■測定範囲内なら自由に部分測定可能

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

基本情報高精度かつ高速な形状測定を実現するセンサ

【仕様】
《FSS仕様》
「FSS80」
 原理:分光干渉
 側面分解能:21μm
 分解能(Z):最小5nm
 スキャンエリア:80mm

「FSS40」
 原理:分光干渉
 側面分解能:6.5μm
 分解能(Z):最小5nm
 スキャンエリア:40mm

《センサ例》
「CHRooodile 2 DW 250」
 測定レンジ:0~1800μm(形状測定として)
 Z方向分解能:5nm
 Z方向直線性:0.6μm
 サンプリングレート:70kHz
 光源:赤外線SLD
 通信方式:Ethernet,RS422,Analog,LVDT

※詳しくは資料をご覧ください。お問い合わせもお気軽にどうぞ。

価格帯 お問い合わせください
納期 お問い合わせください
用途/実績例 【用途・測定項目・メリットなどキーワード】
非接触センサ、光センサ、光学センサ、分光干渉法、厚み、薄膜、厚膜、ギャップ、高さ、平坦度、TTV、形状、計測、測定、検査、高速、3次元、エリアスキャン、全面、高精度、インライン、モニタリング、オフライン、スタンドアロン機、卓上機、半導体、ウエハ、ウエハ貼あわせ、Siウエハ、Si, GaAs, InP, SiC, LiNbO3(LN), LiTaO3(LT), GaN, SiP、Al2O3(サファイア)、PCB、医療用バルーン、バリアフィルム、PETフィルム、コート、フィルム、多層フィルム、塗布膜、コンフォーマルコーティング、電極層コーティング、ステントコーティング、ポリイミド、PVB、樹脂材、フラックス、接着剤、絶縁膜、空気層、透明、透明体、光沢、鏡面、簡単

カタログ高精度かつ高速な形状測定を実現するセンサ

取扱企業高精度かつ高速な形状測定を実現するセンサ

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プレシテック・ジャパン株式会社

■レーザ加工関連  - 加工ヘッド  - 溶接ヘッド  - プロセスモニター ■光学センサ <距離・形状、厚み測定> ・色収差共焦点 CHRocodileシリーズ  - シングルポイント   2S/2SE:高精度   2HS:ハイパワー  - デュアルポイント   2DPS  - 廉価版シングルポイント   C:プローブと一体   Mini:プローブと別体  - ラインセンサ   CLS:低クロストークノイズ   CLS2.0:長いライン長・広測定範囲   CLS2 PRO:長いライン長・角度許容度高 ・分光干渉CHRocodileシリーズ  - シングルポイント   2IT:高精度   2DW:ドープウエハ対応   2RW:粗ウエハ対応   2SX:加工モニタリング用広測定範囲 ・分光干渉センサ用エリアスキャナ    Flying Spot Scanner:Φ40~310mm    *CHRocodileシリーズと組合わせ <厚み測定> レーザーフォトサーマルセンサ Enovasenseセンサ:不透明体の非接触測定

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