電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能です。
『XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。
当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの
膜厚測定や組成分析に好適です。
全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと
一次フィルターを搭載しています。
操作性も簡単に膜厚測定と素材分析ができます。
【特長】
■薄膜コーティングの膜厚測定や組成分析に好適
■機能性多層膜の測定・プリント回路基板などの自動測定
■小さな測定スポットでも高いカウント数が得られ、高い精度で測定可能
■高精度かつ長期安定性を有する
■より簡単に膜厚測定と素材分析が可能
※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 汎用測定器『 XDLM 237 』
【仕様(抜粋)】
■電源：AC115VまたはAC230V 50/60Hz
■消費電力：最大120W（PCを除く）
■保護クラス：IP40
■寸法：幅570x奥760x高650mm
■測定室内の寸法：幅460x奧495x高146mm
■重量：120kg
※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
| 価格帯 | 1000万円 ~ 5000万円 |
|---|---|
| 納期 |
お問い合わせください
※まずは一度、お気軽にお問い合わせください。 |
| 型番・ブランド名 | XDLM 237・Helmut Fischer |
| 用途／実績例 | 【用途】 ■電気メッキ量産部品 ■小さな測定スポットの薄膜の厚さ測定 ■電子部品産業や半導体産業の機能性多層膜の測定 ■プリント回路基板などの自動測定 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
詳細情報蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 汎用測定器『 XDLM 237 』
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PWB, PCB基板どちらの状態でも、めっき部(Au/Ni/Cu..)の膜厚測定が可能。
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複数部品を同ステージ上にて測定が可能。測定の効率化に。
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使いやすいUI 画面で操作性に優れ、測定結果の統計的管
理機能（SPC 管理、Cp/Cpk、σなど）も組み込まれてお
り、高度な知識やスキルを持つ技術者から現場の作業者
まで幅広く扱える。
カタログ蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 汎用測定器『 XDLM 237 』
取扱企業蛍光Ｘ線式 膜厚測定器 汎用測定器『 XDLM 237 』
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素材からかたちまで コト・モノづくりをサポートする‘状態の可視化’をご提供します 【熱・温度】 •電子基板や部品の温度分布測定、状態監視 •設備保守 【振動】 •電子部品、製品や機械の振動試験 【ひずみ・応力】 •応力解析 •耐久性試験 【膜厚・組成】 •コネクタや接点の多層コーティング膜厚測定 •プリント回路基板の薄膜測定 【3D形状計測】 ・リバースエンジニアリング ・CAD用スキャン ・対象物とCADの比較検査 【音】 •音測定、騒音試験関連
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